Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis - Rilegato

Echlin, Patrick; Fiori, C.E.; Goldstein, Joseph; Joy, David C.; Newbury, Dale E.

 
9780306421402: Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

Sinossi

This book has its origins in the intensive short courses on scanning elec­ tron microscopy and x-ray microanalysis which have been taught annually at Lehigh University since 1972.

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Contenuti

1. Modeling Electron Beam-Specimen Interactions.- 2. SEM Microcharacterization of Semiconductors.- 3. Electron Channeling Contrast in the SEM.- 4. Magnetic Contrast in the SEM.- 5. Computer-Aided Imaging and Interpretation.- 6. Alternative Microanalytical Techniques.- 7. Specimen Coating.- 8. Advances in Specimen Preparation for Biological SEM.- 9. Cryomicroscopy.- References.

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Altre edizioni note dello stesso titolo

9781475790290: Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

Edizione in evidenza

ISBN 10:  1475790295 ISBN 13:  9781475790290
Casa editrice: Springer, 2013
Brossura