Emc Analysis Methods and Computational Models

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9780471155737: Emc Analysis Methods and Computational Models

Describes and illustrates various modeling techniques which are applicable to the area of EMC and includes material previously available only in international reports or other hard-to-obtain references. Electromagnetic topology, lumped-parameter circuit models, the radiation process, scalar diffraction theory for apertures, transmission line modeling, and models for shielding are among the topics discussed. The accompanying disk contains four programs based on the models developed in the text and can be used to calculate diverse transmission line responses.

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L'autore:

Frederick M. Tesche, PhD, is an EMC consultant to both government and industry in the areas of applied electromagnetics and computer techniques.
Michel V. Ianoz, PhD, is a professor in EMC and high-voltage techniques at the Swiss Federal Institute of Technology at Lausanne.
TorbjÖrn Karlsson, PhD, is chief scientist at Emicon, an electromagnetics consulting company he cofounded.

Dalla quarta di copertina:

A comprehensive reference on state-of-the-art EMC modeling.
 
The problems of electromagnetic interference are as old as radio wave communication. Only recently, however, has progress in numerical computation permitted the creation of models that help explain the physical phenomena of EM interference and predict and mitigate their effects. These models also invite an approach to solving EMC problems that furthers an understanding of underlying principles. EMC Analysis Methods and Computational Models provides detailed descriptions of the formulation, development, analysis, and use of EMC models.
 
Departing from the rules-of-thumb approach for predicting electromagnetic interference, this book covers every step in the development of computational models--from the electromagnetic topology of the system to the development of coupling, penetration, and propagation models that describe the behavior of energy within the system. Supported by numerous illustrations, it
* Covers circuit theory, low-frequency coupling, discrete source radiation, transmission line propagation, EM field penetration through apertures, diffusion, and shielding.
* Discusses the approximations necessary in model development and contrasts approximate models with more rigorous models.
* Includes exercises that elaborate the theory behind the models and indicate practical applications.
* Provides computer programs based on models developed in the text.
 
For practicing engineers, researchers, and graduate students, this book broadens the base of knowledge about the principles of EMC and lays the foundation for future research in the field.

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1.

Frederick M. Tesche, Michel V. Ianoz, Torbjorn Karlsson
Editore: John Wiley Sons Inc, United States (1997)
ISBN 10: 047115573X ISBN 13: 9780471155737
Nuovi Rilegato Prima edizione Quantità: 1
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Descrizione libro John Wiley Sons Inc, United States, 1997. Hardback. Condizione libro: New. 1. Auflage. 239 x 157 mm. Language: English . Brand New Book. Describes and illustrates various modeling techniques which are applicable to the area of EMC and includes material previously available only in international reports or other hard-to-obtain references. Electromagnetic topology, lumped-parameter circuit models, the radiation process, scalar diffraction theory for apertures, transmission line modeling, and models for shielding are among the topics discussed. The accompanying disk contains four programs based on the models developed in the text and can be used to calculate diverse transmission line responses. Codice libro della libreria AAH9780471155737

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Frederick M. Tesche
Editore: Wileyand#8211;Blackwell (1997)
ISBN 10: 047115573X ISBN 13: 9780471155737
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Descrizione libro Wileyand#8211;Blackwell, 1997. HRD. Condizione libro: New. New Book. Shipped from UK in 4 to 14 days. Established seller since 2000. Codice libro della libreria FW-9780471155737

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Frederick M. Tesche, Michel V. Ianoz, Torbjorn Karlsson
Editore: John Wiley Sons Inc, United States (1997)
ISBN 10: 047115573X ISBN 13: 9780471155737
Nuovi Rilegato Prima edizione Quantità: 1
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Frederick M. Tesche, Michel Ianoz, Torbjörn Karlsson, Torbjorn Karlsson
Editore: Wiley-Interscience (1996)
ISBN 10: 047115573X ISBN 13: 9780471155737
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Tesche
Editore: John Wiley & Sons (2016)
ISBN 10: 047115573X ISBN 13: 9780471155737
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Descrizione libro John Wiley & Sons, 2016. Paperback. Condizione libro: New. PRINT ON DEMAND Book; New; Publication Year 2016; Not Signed; Fast Shipping from the UK. No. book. Codice libro della libreria ria9780471155737_lsuk

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6.

Frederick M. Tesche
Editore: Wileyand#8211;Blackwell (1997)
ISBN 10: 047115573X ISBN 13: 9780471155737
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7.

Tesche, Frederick M., Ianoz, Michel, Kar
Editore: Wiley-Interscience (2017)
ISBN 10: 047115573X ISBN 13: 9780471155737
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Descrizione libro Wiley-Interscience, 2017. Hardcover. Condizione libro: New. This item is printed on demand. Codice libro della libreria P11047115573X

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8.

Frederick M. Tesche
ISBN 10: 047115573X ISBN 13: 9780471155737
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Descrizione libro 1996. Hardcover. Condizione libro: New. 1st. 164mm x 37mm x 243mm. Hardcover. Describes and illustrates various modeling techniques which are applicable to the area of EMC and includes material previously available only in international reports or other hard-to-obta.Shipping may be from multiple locations in the US or from the UK, depending on stock availability. 656 pages. 1.107. Codice libro della libreria 9780471155737

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Tesche, Frederick M.; Ianoz, Michel; Karlsson, Torbjörn
Editore: Wiley-Interscience (1996)
ISBN 10: 047115573X ISBN 13: 9780471155737
Nuovi Rilegato Quantità: 10
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Descrizione libro Wiley-Interscience, 1996. Hardcover. Condizione libro: New. Codice libro della libreria INGM9780471155737

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10.

Tesche, Frederick M.; Ianoz, Michel; Karlsson, Torbjörn
Editore: Wiley-Interscience (1996)
ISBN 10: 047115573X ISBN 13: 9780471155737
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