The Physics of Moire Metrology

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9780471509677: The Physics of Moire Metrology

This is a comprehensive introduction to Moire technology, the physics behind it and its applications to optics. It provides background information on the development of Moire methodology and compares moire analysis with conventional methods on wave properties (such as interferometry). The authors show that for every interferometric technique in metrology there is an analogous one in Moire technology, demonstrating that Moire analysis is a real alternative to interfermonetry and holography.

Le informazioni nella sezione "Riassunto" possono far riferimento a edizioni diverse di questo titolo.

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1.

Kafri, Oded; Glatt, Ilana
Editore: Wiley-Interscience (1990)
ISBN 10: 0471509671 ISBN 13: 9780471509677
Nuovi Rilegato Quantità: 1
Da
Ergodebooks
(RICHMOND, TX, U.S.A.)
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Descrizione libro Wiley-Interscience, 1990. Hardcover. Condizione libro: New. 1. Codice libro della libreria DADAX0471509671

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