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Sinossi
This detailed sourcebook provides an up-to-date description and unified treatment of the characterization techniques used in the semiconductor industry. It covers electrical, optical, electron- beam, ion-beam, X-ray and gamma ray methods. This information, until now scattered in journals and review papers, is presented in a unified manner with over 1300 references. It is also a valuable reference book on characterization methods.
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Product Description
Book by Schroder Dieter K
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Semiconductor Material and Device Characterization
Editore:
Wiley-Interscience, 1990
ISBN 10: 0471511048
ISBN 13: 9780471511045
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Da: ThriftBooks-Dallas, Dallas, TX, U.S.A.
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Hardcover. Condizione: Very Good. No Jacket. May have limited writing in cover pages. Pages are unmarked. ~ ThriftBooks: Read More, Spend Less 2.15. Codice articolo G0471511048I4N00
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Semiconductor Material and Device Characterization
Editore:
Wiley-Interscience, 1990
ISBN 10: 0471511048
ISBN 13: 9780471511045
Antico o usato
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Da: ThriftBooks-Atlanta, AUSTELL, GA, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Hardcover. Condizione: Good. No Jacket. Pages can have notes/highlighting. Spine may show signs of wear. ~ ThriftBooks: Read More, Spend Less 2.15. Codice articolo G0471511048I3N00
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Semiconductor Material and Device Characterization
Editore:
Wiley & Sons, Incorporated, John, 1990
ISBN 10: 0471511048
ISBN 13: 9780471511045
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Da: Better World Books, Mishawaka, IN, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: Good. Former library book; may include library markings. Used book that is in clean, average condition without any missing pages. Codice articolo 7648326-75
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Semiconductor Material and Device Characterization
Editore:
Somerset, New Jersey, U.S.A.: John Wiley & Sons Inc, 1990
ISBN 10: 0471511048
ISBN 13: 9780471511045
Antico o usato
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Da: Bingo Books 2, Vancouver, WA, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Hardcover. Condizione: Near Fine. Condizione sovraccoperta: Near Fine. hardback book and dust jacket in near fine condition. Codice articolo 121490
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Semiconductor Material and Device Characterization
Editore:
Wiley-Interscience, 1990
ISBN 10: 0471511048
ISBN 13: 9780471511045
Antico o usato
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Da: KuleliBooks, Phoenix, AZ, U.S.A.
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Condizione: Good. The book may have minor cosmetic wear (i.e. creased spine/cover, scratches, curled corners, folded pages, minor sunburn, minor water damage, minor bent). The book may have some highlights/notes/underlined pages - Accessories such as CD, codes, toys, may not be included - Safe and Secure Mailer - No Hassle Return. Codice articolo 521PY6003IYI
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Semiconductor Material and Device Characterization
Editore:
John Wiley & Sons Inc, NY, 1990
ISBN 10: 0471511048
ISBN 13: 9780471511045
Antico o usato
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Da: Feldman's Books, Menlo Park, CA, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Hardcover. Condizione: Fine. Codice articolo 00031623
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Semiconductor Material and Device Characterization
Editore:
Wiley-Interscience, 1990
ISBN 10: 0471511048
ISBN 13: 9780471511045
Antico o usato
Rilegato
Da: Goodwill of Silicon Valley, SAN JOSE, CA, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Condizione: acceptable. Supports Goodwill of Silicon Valley job training programs. The cover and pages are in Acceptable condition! Any other included accessories are also in Acceptable condition showing use. Use can include some highlighting and writing, page and cover creases as well as other types visible wear such as cover tears discoloration, staining, marks, scuffs, etc. All pages intact. Codice articolo GWSVV.0471511048.A
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Semiconductor Material and Device Characterization
Da: Toscana Books, AUSTIN, TX, U.S.A.
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Hardcover. Condizione: new. Excellent Condition.Excels in customer satisfaction, prompt replies, and quality checks. Codice articolo Scanned0471511048
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Semiconductor Material and Device Characterization
Editore:
Wiley-Interscience, 1990
ISBN 10: 0471511048
ISBN 13: 9780471511045
Antico o usato
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Da: HPB-Red, Dallas, TX, U.S.A.
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hardcover. Condizione: Good. Connecting readers with great books since 1972! Used textbooks may not include companion materials such as access codes, etc. May have some wear or writing/highlighting. We ship orders daily and Customer Service is our top priority! Codice articolo S_407016187
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Semiconductor Material and Device Characterization - 1st Edition/1st Printing
Editore:
John Wiley & Sons, Inc., New York, 1990
ISBN 10: 0471511048
ISBN 13: 9780471511045
Antico o usato
Rilegato
Prima edizione
Da: Books Tell You Why - ABAA/ILAB, Summerville, SC, U.S.A.
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Hardcover. Condizione: Near Fine. Condizione sovraccoperta: Near Fine. First Edition; First Printing. A handsome first edition/first printing in Near Fine condition with previous owner's signature to front flyleaf in alike dust-jacket with light edgewear. [i-iv] v-vii [viii] ix-xv [xvi-xviii], 1-599 [600-6] pages; Book is written for graduate students and industrial researchers who want to learn more about the wide spectrum of measurement methods found in the modern semiconductor industry ; 8vo. Codice articolo 42841
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