Semiconductor Material and Device Characterization

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9780471511045: Semiconductor Material and Device Characterization

This detailed sourcebook provides an up-to-date description and unified treatment of the characterization techniques used in the semiconductor industry. It covers electrical, optical, electron- beam, ion-beam, X-ray and gamma ray methods. This information, until now scattered in journals and review papers, is presented in a unified manner with over 1300 references. It is also a valuable reference book on characterization methods.

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1.

Schroder, Dieter K.
Editore: Wiley-Interscience (1990)
ISBN 10: 0471511048 ISBN 13: 9780471511045
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2.

Dieter K. Schroder
Editore: John Wiley & Sons Inc (1990)
ISBN 10: 0471511048 ISBN 13: 9780471511045
Nuovi Rilegato Quantità: 1
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Descrizione libro John Wiley & Sons Inc, 1990. Hardcover. Condizione libro: New. Codice libro della libreria DADAX0471511048

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