Failure Mechanisms in Semiconductor Devices

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9780471914341: Failure Mechanisms in Semiconductor Devices

A straightforward and accessible approach to the subject of failure in electronic components, centering largely around semiconductor devices. The authors have drawn on their considerable experience in this field to produce an authoritative work which identifies possible sources of failure in semiconductor devices and discusses methods for the detection and elimination of the same. The physics of failure mechanisms are covered in detail, from the semiconductor die itself to its packaging and interconnections. Other topics covered include accelerated lifetesting, reliability modelling and estimating, assurance and screening techniques.

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1.

Amerasekera, E. Ajith; Campbell, D. S.
Editore: Wiley
ISBN 10: 0471914347 ISBN 13: 9780471914341
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2.

Amerasekera, E. Ajith, Campbell, D. S.
Editore: Wiley (1987)
ISBN 10: 0471914347 ISBN 13: 9780471914341
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Descrizione libro Wiley, 1987. Hardcover. Condizione libro: New. Codice libro della libreria P110471914347

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3.

E. Ajith Amerasekera, D. S. Campbell
Editore: John Wiley & Sons (1987)
ISBN 10: 0471914347 ISBN 13: 9780471914341
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