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Testing Semiconductor Memories: Theory and Practice - Rilegato

Van De Goor, A. J.

 
9780471925866: Testing Semiconductor Memories: Theory and Practice
Rilegato
ISBN 10: 0471925861 ISBN 13: 9780471925866
Casa editrice: John Wiley & Sons Inc, 1991
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Goor (EE, Delft U.) presents memory test models on the chip, array, and board level. For each a class of fault models is introduced together with opposite tests. He particularly stresses the appropriateness of fault models to their class. Annotation copyright Book News, Inc. Portland, Or.

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Product Description:
Book by Van De Goor A J

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  • EditoreJohn Wiley & Sons Inc
  • Data di pubblicazione1991
  • ISBN 10 0471925861
  • ISBN 13 9780471925866
  • RilegaturaCopertina rigida
  • Numero di pagine535

Altre edizioni note dello stesso titolo

9780471925873: Testing Semiconductor Memories

Edizione in evidenza

ISBN 10:  047192587X ISBN 13:  9780471925873
Casa editrice: John Wiley & Sons Ltd, 1991
Brossura

  • 9789080427617: Testing Semiconductor Memories: Theory and Practice

    A.J. v..., 1998
    Rilegato

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Van De Goor, A. J.
Editore: John Wiley & Sons Inc (1998)
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