Articoli correlati a Testing Semiconductor Memories
Comprehensive coverage of memory test problems at chip, array and board level is provided in this book. For each of these test levels a class of fault models is introduced along with tests for these models. The author also presents algorithms of relevant fault models, together with proofs of their correctness. Special attention is given to why a fault model belongs to a particular class and why it is of interest. A software package, suitable for use on IBM PCs and compatibles,is also available which consists of a set of memory test programs and a simulation package demonstrating how the algorithms are executed and the relationship of the algorithm with the memory.
Le informazioni nella sezione "Riassunto" possono far riferimento a edizioni diverse di questo titolo.
- EditoreJohn Wiley & Sons Ltd
- Data di pubblicazione1991
- ISBN 10 047192587X
- ISBN 13 9780471925873
- RilegaturaCopertina flessibile
- Numero di pagine512
(nessuna copia disponibile)
Cerca: Inserisci un desiderataSe non trovi il libro che cerchi su AbeBooks possiamo cercarlo per te automaticamente ad ogni aggiornamento del nostro sito. Se il libro è ancora reperibile da qualche parte, lo troveremo!
Inserisci un desiderata