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Failure Mechanisms in Semiconductor Devices - Rilegato

 
9780471954828: Failure Mechanisms in Semiconductor Devices
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Failure Mechanisms in Semiconductor Devices Second Edition E. Ajith Amerasekera Texas Instruments Inc., Dallas, USA Farid N. Najm University of Illinois at Urbana-Champaign, USA Since the successful first edition of Failure Mechanisms in Semiconductor Devices, semiconductor technology has become increasingly important. The high complexity of today's integrated circuits has engendered a demand for greater component reliability. Reflecting the need for guaranteed performance in consumer applications, this thoroughly updated edition includes more detailed material on reliability modelling and prediction. The book analyses the main failure mechanisms in terms of cause, effects and prevention and explains the mathematics behind reliability analysis. The authors detail methodologies for the identification of failures and describe the approaches for building reliability into semiconductor devices. Their thorough yet accessible text covers the physics of failure mechanisms from the semiconductor die itself to the packaging and interconnections. Incorporating recent advances, this comprehensive survey of semiconductor reliability will be an asset to both engineers and graduate students in the field.

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L'autore:

E. Ajith Amerasekera is the author of Failure Mechanisms in Semiconductor Devices, 2nd Edition, published by Wiley. Farid N. Najm is the author of Failure Mechanisms in Semiconductor Devices, 2nd Edition, published by Wiley.

Product Description:
Book by Amerasekera E Ajith Najm Farid N

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  • EditoreJohn Wiley & Sons Inc
  • Data di pubblicazione1997
  • ISBN 10 0471954829
  • ISBN 13 9780471954828
  • RilegaturaCopertina rigida
  • Numero di pagine345

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9780471914341: Failure Mechanisms in Semiconductor Devices

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ISBN 10:  ISBN 13:  9780471914341
Casa editrice: John Wiley & Sons Inc, 1987
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E. Ajith Amerasekera|Farid N. Najm
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Descrizione libro Gebunden. Condizione: New. Failure Mechanisms in Semiconductor Devices Second Edition E. Ajith Amerasekera Texas Instruments Inc., Dallas, USA Farid N. Najm University of Illinois at Urbana-Champaign, USA Since the successful first edition of Failure Mechanisms in Semiconductor Devic. Codice articolo 446918635

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