Le informazioni nella sezione "Riassunto" possono far riferimento a edizioni diverse di questo titolo.
Le informazioni nella sezione "Su questo libro" possono far riferimento a edizioni diverse di questo titolo.
Spese di spedizione:
EUR 48,99
Da: Germania a: U.S.A.
Descrizione libro Gebunden. Condizione: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Doneker, J.Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors 1997 provides a valuable overview of current techniques used to assess, monitor, and characterize defects from the atomic scale to inhomogeneities in complete silicon wafers. This . Codice articolo 594940535
Descrizione libro Hardcover. Condizione: Brand New. 1st edition. 524 pages. 9.75x6.50x1.25 inches. In Stock. Codice articolo __0750305002
Descrizione libro Hardcover. Condizione: New. Codice articolo 6666-TNFPD-9780750305006
Descrizione libro Condizione: New. PRINT ON DEMAND Book; New; Fast Shipping from the UK. No. book. Codice articolo ria9780750305006_lsuk
Descrizione libro HRD. Condizione: New. New Book. Shipped from UK. THIS BOOK IS PRINTED ON DEMAND. Established seller since 2000. Codice articolo L1-9780750305006
Descrizione libro HRD. Condizione: New. New Book. Delivered from our UK warehouse in 4 to 14 business days. THIS BOOK IS PRINTED ON DEMAND. Established seller since 2000. Codice articolo L1-9780750305006
Descrizione libro Condizione: New. Codice articolo I-9780750305006