Articoli correlati a Structure and Electronic Properties of Ultrathin Dielectric...

Structure and Electronic Properties of Ultrathin Dielectric Films on Silicon and Related Structures: Volume 592 - Brossura

 
9781107413320: Structure and Electronic Properties of Ultrathin Dielectric Films on Silicon and Related Structures: Volume 592

Al momento non sono disponibili copie per questo codice ISBN.

Sinossi

The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for researchers and practitioners. This volume was first published in 2000.

Le informazioni nella sezione "Riassunto" possono far riferimento a edizioni diverse di questo titolo.

Descrizione del libro

The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for researchers and practitioners. The book, first published in 2000, includes detailed theoretical studies of the nature of SiO2 and its interface with silicon, electron paramagnetic resonance for the study of defects, electron tunneling, and band alignment among others.

Le informazioni nella sezione "Su questo libro" possono far riferimento a edizioni diverse di questo titolo.

(nessuna copia disponibile)

Cerca:



Inserisci un desiderata

Non riesci a trovare il libro che stai cercando? Continueremo a cercarlo per te. Se uno dei nostri librai lo aggiunge ad AbeBooks, ti invieremo una notifica!

Inserisci un desiderata

Altre edizioni note dello stesso titolo

9781558995000: Structure and Electronic Properties of Ultrathin Dielectric Films on Silicon and Related Structures: Volume 592

Edizione in evidenza

ISBN 10:  1558995005 ISBN 13:  9781558995000
Casa editrice: Cambridge University Press, 2000
Rilegato