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Testability Concepts for Digital ICs: The Macro Test Approach - Brossura

Beenker, F.P.M.; Bennetts, R.G.; Thijssen, A.P.

 
9781461523666: Testability Concepts for Digital ICs: The Macro Test Approach
Brossura
ISBN 10: 1461523664 ISBN 13: 9781461523666
Casa editrice: Springer, 2011

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Sinossi

Preface. 1. Introduction. 2. Defect-Oriented Testing. 3. Macro Test: A Framework for Testable IC Design. 4. Examples of Leaf-Macro Test Techniques. 5. Scan Chain Routing with Minimal Test Application Time. 6. Test Control Block Concepts. 7. Exploiting Parallelism in Leaf-Macro Access. 8. Timing Aspects of CMOS VLSI Circuits. List of Symbols and Abbreviations. References. Index.

Le informazioni nella sezione "Riassunto" possono far riferimento a edizioni diverse di questo titolo.

  • EditoreSpringer
  • Data di pubblicazione2011
  • ISBN 10 1461523664
  • ISBN 13 9781461523666
  • RilegaturaPaperback
  • LinguaInglese
  • Contatto del produttorenon disponibile

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ISBN 10:  0792396588 ISBN 13:  9780792396581
Casa editrice: Kluwer Academic Pub, 1995
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