Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis - Brossura

Echlin, Patrick; Fiori, C.E.; Goldstein, Joseph

 
9781475790283: Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
Brossura
ISBN 10: 1475790287 ISBN 13: 9781475790283
Casa editrice: Springer, 2013

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Sinossi

1. Modeling Electron Beam-Specimen Interactions.- 2. SEM Microcharacterization of Semiconductors.- 3. Electron Channeling Contrast in the SEM.- 4. Magnetic Contrast in the SEM.- 5. Computer-Aided Imaging and Interpretation.- 6. Alternative Microanalytical Techniques.- 7. Specimen Coating.- 8. Advances in Specimen Preparation for Biological SEM.- 9. Cryomicroscopy.- References.

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Editore
Springer
Data di pubblicazione
2013
Lingua
Inglese
ISBN 10 
1475790287
ISBN 13 
9781475790283
Rilegatura
Paperback
Numero di pagine
476
Contatto del produttore
non disponibile
Persona responsabile
non disponibile

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