Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits - Brossura

Libro 92 di 548: Lecture Notes in Electrical Engineering

Liu, Xiao; Xu, Qiang

 
9783319005348: Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits
Brossura
ISBN 10: 3319005340 ISBN 13: 9783319005348
Casa editrice: Springer, 2013

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Sinossi

Introduction.- State of the Art on Post-Silicon Validation.- Signal Selection for Visibility Enhancement.- Multiplexed Tracing for Design Error.- Tracing for Electrical Error.- Reusing Test Access Mechanisms.- Interconnection Fabric for Flexible Tracing.- Interconnection Fabric for Systematic Tracing.- Conclusion.

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Editore
Springer
Data di pubblicazione
2013
Lingua
Inglese
ISBN 10 
3319005340
ISBN 13 
9783319005348
Rilegatura
Paperback
Contatto del produttore
non disponibile
Persona responsabile
non disponibile

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