Articoli correlati a Design-for-Test and Test Optimization Techniques for...

Design-for-Test and Test Optimization Techniques for TSV-based 3D Stacked ICs - Brossura

 
9783319345345: Design-for-Test and Test Optimization Techniques for TSV-based 3D Stacked ICs

Sinossi

This volume encompasses the latest, innovative methods of testing three-dimensional integrated circuits, incorporating pre-bond and post-bond tests as well as the test optimization and scheduling necessary to ensure that 3D testing remains cost-effective.

Le informazioni nella sezione "Riassunto" possono far riferimento a edizioni diverse di questo titolo.

Informazioni sull?autore

Krishnendu Chakrabarty is a Professor of Electrical and Computer Engineering at Duke University. He received his PhD from University of Michigan. He is a Fellow of IEEE and a Distinguished Engineer of ACM.

Dalla quarta di copertina


This book describes innovative techniques to address the testing needs of 3D stacked integrated circuits (ICs) that utilize through-silicon-vias (TSVs) as vertical interconnects. The authors identify the key challenges facing 3D IC testing and present results that have emerged from cutting-edge research in this domain. Coverage includes topics ranging from die-level wrappers, self-test circuits, and TSV probing to test-architecture design, test scheduling, and optimization. Readers will benefit from an in-depth look at test-technology solutions that are needed to make 3D ICs a reality and commercially viable.

Provides a comprehensive guide to the challenges and solutions for the testing of TSV-based 3D stacked ICs;
Includes in-depth explanation of key test and design-for-test technologies, emerging standards, and test- architecture and test-schedule optimizations;
Encompasses all aspects of test as related to 3D ICs, including pre-bond and post-bond test as well as the test optimization and scheduling necessary to ensure that 3D testing remains cost-effective.

Le informazioni nella sezione "Su questo libro" possono far riferimento a edizioni diverse di questo titolo.

Compra usato

Condizioni: come nuovo
Like New
Visualizza questo articolo

EUR 28,90 per la spedizione da Regno Unito a U.S.A.

Destinazione, tempi e costi

EUR 23,00 per la spedizione da Germania a U.S.A.

Destinazione, tempi e costi

Altre edizioni note dello stesso titolo

9783319023779: Design-for-test and Test Optimization Techniques for Tsv-based 3d Stacked Ics

Edizione in evidenza

ISBN 10:  3319023772 ISBN 13:  9783319023779
Casa editrice: Springer Nature, 2013
Rilegato

Risultati della ricerca per Design-for-Test and Test Optimization Techniques for...

Immagini fornite dal venditore

Krishnendu Chakrabarty
ISBN 10: 3319345346 ISBN 13: 9783319345345
Nuovo Taschenbuch
Print on Demand

Da: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Germania

Valutazione del venditore 5 su 5 stelle 5 stelle, Maggiori informazioni sulle valutazioni dei venditori

Taschenbuch. Condizione: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This book describes innovative techniques to address the testing needs of 3D stacked integrated circuits (ICs) that utilize through-silicon-vias (TSVs) as vertical interconnects. The authors identify the key challenges facing 3D IC testing and present results that have emerged from cutting-edge research in this domain. Coverage includes topics ranging from die-level wrappers, self-test circuits, and TSV probing to test-architecture design, test scheduling, and optimization. Readers will benefit from an in-depth look at test-technology solutions that are needed to make 3D ICs a reality and commercially viable. 264 pp. Englisch. Codice articolo 9783319345345

Contatta il venditore

Compra nuovo

EUR 109,99
Convertire valuta
Spese di spedizione: EUR 23,00
Da: Germania a: U.S.A.
Destinazione, tempi e costi

Quantità: 2 disponibili

Aggiungi al carrello

Immagini fornite dal venditore

Brandon Noia|Krishnendu Chakrabarty
ISBN 10: 3319345346 ISBN 13: 9783319345345
Nuovo Brossura
Print on Demand

Da: moluna, Greven, Germania

Valutazione del venditore 5 su 5 stelle 5 stelle, Maggiori informazioni sulle valutazioni dei venditori

Condizione: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Provides a comprehensive guide to the challenges and solutions for the testing of TSV-based 3D stacked ICsIncludes in-depth explanation of key test and design-for-test technologies, emerging standards, and test- architecture and test-schedule opti. Codice articolo 458602076

Contatta il venditore

Compra nuovo

EUR 92,39
Convertire valuta
Spese di spedizione: EUR 48,99
Da: Germania a: U.S.A.
Destinazione, tempi e costi

Quantità: Più di 20 disponibili

Aggiungi al carrello

Immagini fornite dal venditore

Krishnendu Chakrabarty
ISBN 10: 3319345346 ISBN 13: 9783319345345
Nuovo Taschenbuch

Da: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Germania

Valutazione del venditore 5 su 5 stelle 5 stelle, Maggiori informazioni sulle valutazioni dei venditori

Taschenbuch. Condizione: Neu. Neuware -This book describes innovative techniques to address the testing needs of 3D stacked integrated circuits (ICs) that utilize through-silicon-vias (TSVs) as vertical interconnects. The authors identify the key challenges facing 3D IC testing and present results that have emerged from cutting-edge research in this domain. Coverage includes topics ranging from die-level wrappers, self-test circuits, and TSV probing to test-architecture design, test scheduling, and optimization. Readers will benefit from an in-depth look at test-technology solutions that are needed to make 3D ICs a reality and commercially viable.Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg 264 pp. Englisch. Codice articolo 9783319345345

Contatta il venditore

Compra nuovo

EUR 109,99
Convertire valuta
Spese di spedizione: EUR 60,00
Da: Germania a: U.S.A.
Destinazione, tempi e costi

Quantità: 2 disponibili

Aggiungi al carrello

Immagini fornite dal venditore

Krishnendu Chakrabarty
ISBN 10: 3319345346 ISBN 13: 9783319345345
Nuovo Taschenbuch

Da: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Germania

Valutazione del venditore 5 su 5 stelle 5 stelle, Maggiori informazioni sulle valutazioni dei venditori

Taschenbuch. Condizione: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book describes innovative techniques to address the testing needs of 3D stacked integrated circuits (ICs) that utilize through-silicon-vias (TSVs) as vertical interconnects. The authors identify the key challenges facing 3D IC testing and present results that have emerged from cutting-edge research in this domain. Coverage includes topics ranging from die-level wrappers, self-test circuits, and TSV probing to test-architecture design, test scheduling, and optimization. Readers will benefit from an in-depth look at test-technology solutions that are needed to make 3D ICs a reality and commercially viable. Codice articolo 9783319345345

Contatta il venditore

Compra nuovo

EUR 109,99
Convertire valuta
Spese di spedizione: EUR 62,27
Da: Germania a: U.S.A.
Destinazione, tempi e costi

Quantità: 1 disponibili

Aggiungi al carrello

Foto dell'editore

Noia, Brandon
Editore: Springer, 2016
ISBN 10: 3319345346 ISBN 13: 9783319345345
Nuovo Brossura

Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.

Valutazione del venditore 4 su 5 stelle 4 stelle, Maggiori informazioni sulle valutazioni dei venditori

Condizione: New. pp. 263. Codice articolo 26378180873

Contatta il venditore

Compra nuovo

EUR 193,93
Convertire valuta
Spese di spedizione: EUR 3,40
In U.S.A.
Destinazione, tempi e costi

Quantità: 4 disponibili

Aggiungi al carrello

Foto dell'editore

Brandon Noia
Editore: Springer, 2016
ISBN 10: 3319345346 ISBN 13: 9783319345345
Nuovo Paperback

Da: Revaluation Books, Exeter, Regno Unito

Valutazione del venditore 5 su 5 stelle 5 stelle, Maggiori informazioni sulle valutazioni dei venditori

Paperback. Condizione: Brand New. reprint edition. 264 pages. 9.25x6.10x0.62 inches. In Stock. Codice articolo 3319345346

Contatta il venditore

Compra nuovo

EUR 173,32
Convertire valuta
Spese di spedizione: EUR 28,90
Da: Regno Unito a: U.S.A.
Destinazione, tempi e costi

Quantità: 1 disponibili

Aggiungi al carrello

Foto dell'editore

Noia, Brandon
Editore: Springer, 2016
ISBN 10: 3319345346 ISBN 13: 9783319345345
Nuovo Brossura
Print on Demand

Da: Majestic Books, Hounslow, Regno Unito

Valutazione del venditore 5 su 5 stelle 5 stelle, Maggiori informazioni sulle valutazioni dei venditori

Condizione: New. Print on Demand pp. 263. Codice articolo 385690326

Contatta il venditore

Compra nuovo

EUR 196,29
Convertire valuta
Spese di spedizione: EUR 7,51
Da: Regno Unito a: U.S.A.
Destinazione, tempi e costi

Quantità: 4 disponibili

Aggiungi al carrello

Foto dell'editore

Noia, Brandon
Editore: Springer, 2016
ISBN 10: 3319345346 ISBN 13: 9783319345345
Nuovo Brossura
Print on Demand

Da: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Germania

Valutazione del venditore 5 su 5 stelle 5 stelle, Maggiori informazioni sulle valutazioni dei venditori

Condizione: New. PRINT ON DEMAND pp. 263. Codice articolo 18378180867

Contatta il venditore

Compra nuovo

EUR 208,69
Convertire valuta
Spese di spedizione: EUR 9,95
Da: Germania a: U.S.A.
Destinazione, tempi e costi

Quantità: 4 disponibili

Aggiungi al carrello

Foto dell'editore

Noia, Brandon, Chakrabarty, Krishnendu
Editore: Springer, 2016
ISBN 10: 3319345346 ISBN 13: 9783319345345
Antico o usato Paperback

Da: Mispah books, Redhill, SURRE, Regno Unito

Valutazione del venditore 4 su 5 stelle 4 stelle, Maggiori informazioni sulle valutazioni dei venditori

Paperback. Condizione: Like New. Like New. book. Codice articolo ERICA79733193453466

Contatta il venditore

Compra usato

EUR 196,43
Convertire valuta
Spese di spedizione: EUR 28,90
Da: Regno Unito a: U.S.A.
Destinazione, tempi e costi

Quantità: 1 disponibili

Aggiungi al carrello