Adhesion Aspects in MEMS/NEMS

S. H. Kim

Editore: Taylor & Francis Ltd, 2011
ISBN 10: 9004190945 / ISBN 13: 9789004190948
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Riassunto: Phenomena associated with the adhesion interaction of surfaces have been a critical aspect of micro- and nanosystem development and performance since the first MicroElectroMechanicalSystems(MEMS) were fabricated. These phenomena are ubiquitous in nature and are present in all systems, however MEMS devices are particularly sensitive to their effects owing to their small size and limited actuation force that can be generated. Extension of MEMS technology concepts to the nanoscale and development of NanoElectroMechanicalSystems(NEMS) will result in systems even more strongly influenced by surface forces. The book is divided into five parts as follows: Part 1: Understanding Through Continuum Theory; Part 2: Computer Simulation of Interfaces; Part 3: Adhesion and Friction Measurements; Part 4: Adhesion in Practical Applications; and Part 5: Adhesion Mitigation Strategies. This compilation constitutes the first book on this extremely important topic in the burgeoning field of MEMS/NEMS. It is obvious from the topics covered in this book that bountiful information is contained here covering understanding of surface forces and adhesion as well as novel ways to mitigate adhesion in MEMS/NEMS. This book should be of great interest to anyone engaged in the wonderful and fascinating field of MEMS/NEMS, as it captures the current R&D activity.

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Dati bibliografici

Titolo: Adhesion Aspects in MEMS/NEMS
Casa editrice: Taylor & Francis Ltd
Data di pubblicazione: 2011
Legatura: Hardcover
Condizione libro: New

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1.

Editore: CRC Press (2011)
ISBN 10: 9004190945 ISBN 13: 9789004190948
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M. T. Dugger, S. H. Kim et al.
Editore: Taylor & Francis Ltd (2011)
ISBN 10: 9004190945 ISBN 13: 9789004190948
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Descrizione libro Taylor & Francis Ltd, 2011. Hardcover. Condizione libro: As New. Phenomena associated with the adhesion interaction of surfaces have been a critical aspect of micro- and nanosystem development and performance since the first MicroElectroMechanicalSystems(MEMS) were fabricated. These phenomena are ubiquitous in nature and are present in all systems, however MEMS devices are particularly sensitive to their effects owing to their small size and limited actuation force that can be generated. Extension of MEMS technology concepts to the nanoscale and development of NanoElectroMechanicalSystems(NEMS) will result in systems even more strongly influenced by surface forces. The book is divided into five parts as follows: Part 1: Understanding Through Continuum Theory; Part 2: Computer Simulation of Interfaces; Part 3: Adhesion and Friction Measurements; Part 4: Adhesion in Practical Applications; and Part 5: Adhesion Mitigation Strategies. This compilation constitutes the first book on this extremely important topic in the burgeoning field of MEMS/NEMS. It is obvious from the topics covered in this book that bountiful information is contained here covering understanding of surface forces and adhesion as well as novel ways to mitigate adhesion in MEMS/NEMS. This book should be of great interest to anyone engaged in the wonderful and fascinating field of MEMS/NEMS, as it captures the current R&D activity. AS NEW SCRATCHED BACK COVER. Codice libro della libreria 000255

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Editore: CRC Press (2011)
ISBN 10: 9004190945 ISBN 13: 9789004190948
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Seong H. Kim (Editor), Michael T. Dugger (Editor), Kash L. Mittal (Editor)
Editore: CRC Press (2011)
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Seong H. Kim
Editore: CRC Press (2011)
ISBN 10: 9004190945 ISBN 13: 9789004190948
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Kim, S. h. (EDT)/ Dugger, M. T. (EDT)/ Mittal, K. L. (EDT)
Editore: Taylor and Francis (2011)
ISBN 10: 9004190945 ISBN 13: 9789004190948
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KIM, SEONG H.; DUGGER, MICHAEL T.; MITTAL, KASH L.
Editore: CRC Press (2017)
ISBN 10: 9004190945 ISBN 13: 9789004190948
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Editore: Taylor Francis Ltd, Netherlands (2011)
ISBN 10: 9004190945 ISBN 13: 9789004190948
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Descrizione libro Taylor Francis Ltd, Netherlands, 2011. Hardback. Condizione libro: New. Language: English . This book usually ship within 10-15 business days and we will endeavor to dispatch orders quicker than this where possible. Brand New Book. Phenomena associated with the adhesion interaction of surfaces have been a critical aspect of micro- and nanosystem development and performance since the first MicroElectroMechanicalSystems(MEMS) were fabricated. These phenomena are ubiquitous in nature and are present in all systems, however MEMS devices are particularly sensitive to their effects owing to their small size and limited actuation force that can be generated. Extension of MEMS technology concepts to the nanoscale and development of NanoElectroMechanicalSystems(NEMS) will result in systems even more strongly influenced by surface forces. The book is divided into five parts as follows: Part 1: Understanding Through Continuum Theory; Part 2: Computer Simulation of Interfaces; Part 3: Adhesion and Friction Measurements; Part 4: Adhesion in Practical Applications; and Part 5: Adhesion Mitigation Strategies. This compilation constitutes the first book on this extremely important topic in the burgeoning field of MEMS/NEMS.It is obvious from the topics covered in this book that bountiful information is contained here covering understanding of surface forces and adhesion as well as novel ways to mitigate adhesion in MEMS/NEMS. This book should be of great interest to anyone engaged in the wonderful and fascinating field of MEMS/NEMS, as it captures the current RD activity. Codice libro della libreria BTE9789004190948

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Kim, Seong H. (Edited by)/ Dugger, Michael T. (Edited by)/ Mittal, Kash L. (Edited by)
Editore: V.S.P. Intl Science (2011)
ISBN 10: 9004190945 ISBN 13: 9789004190948
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Descrizione libro V.S.P. Intl Science, 2011. Hardcover. Condizione libro: Brand New. 409 pages. 9.50x6.50x1.25 inches. In Stock. Codice libro della libreria __9004190945

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Seong H. Kim
ISBN 10: 9004190945 ISBN 13: 9789004190948
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