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Dati bibliografici

Titolo: DEFECT ORIENTED TESTING FOR NANO METRIC CMOS VLSI CIRCUITS
Editore: New Age International Publisher
Data di pubblicazione: 2010
Lingua: Inglese
ISBN 10: 8184894295
ISBN 13: 9788184894295
Rilegatura: Brossura
Edizione: Edizione Internazionale
Condizione: New

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