Data-Driven Remaining Useful Life Prognosis Techniques: Stochastic Models, Methods and Applications (Springer Series in Reliability Engineering)

Si, Xiao-Sheng; Zhang, Zheng-Xin; Hu, Chang-Hua

ISBN 10: 3662571730 ISBN 13: 9783662571736
Editore: Springer, 2018
Lingua: Inglese
Condizione: Nuovo Brossura

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