ISTFA 2014, Proceedings from the 40th International Symposium for Testing and Failure Analysis

ASM International

Editore: A S M International, 2015
ISBN 10: 1627080740 / ISBN 13: 9781627080743
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Riassunto: This volume features the latest research and practical data from the premier event for the microelectronics failure analysis community. The papers address the symposium's theme, Exploring the Many Facets of Failure Analysis.

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Dati bibliografici

Titolo: ISTFA 2014, Proceedings from the 40th ...
Casa editrice: A S M International
Data di pubblicazione: 2015
Legatura: Paperback
Condizione libro: New

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Editore: ASM International
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