Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis: Third Edition

Michael, J.R.,Sawyer, Linda,Lifshin, Eric,Echlin, Patrick,Lyman, Charles E.,Joy, David C.,Newbury, Dale E.,Goldstein, Joseph

ISBN 10: 0306472929 ISBN 13: 9780306472923
Editore: Springer, 2003
Lingua: Inglese
Condizione: Usato - Buono Rilegato

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