Yield Modelling and Defect Tolerance in VLSI, Papers Presented at the INT Workshop on Designing for Yield, 1-3 July 1987, Oxford

Moore, Will, Maly, Wojciech

Editore: CRC Press, 1988
ISBN 10: 085274398X / ISBN 13: 9780852743980
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Riassunto: Papers of the International Workshop on Designing for Yield, Oxford, July 1987. Objectives include discussion of topics in VLSI and designing integrated circuits to yield targets. On yield loss mechanisms and defect tolerance, alternative prospects, catastrophic yield loss models, parametric yield l

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Dati bibliografici

Titolo: Yield Modelling and Defect Tolerance in VLSI...
Casa editrice: CRC Press
Data di pubblicazione: 1988
Condizione libro: very good

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1.

Moore, Will
Editore: Adam Hilger (1988)
ISBN 10: 085274398X ISBN 13: 9780852743980
Usato Rilegato Quantità: 1
Da
dsmbooks
(liverpool, Regno Unito)
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Descrizione libro Adam Hilger, 1988. Hardcover. Condizione libro: As New. As New. book. Codice libro della libreria F5S2-8-Z-085274398X-5

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