Yield Modelling and Defect Tolerance in VLSI, Papers Presented at the INT Workshop on Designing for Yield, 1-3 July 1987, Oxford

Moore, Will, Maly, Wojciech

Editore: CRC Press, 1988
ISBN 10: 085274398X / ISBN 13: 9780852743980
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Dati bibliografici

Titolo: Yield Modelling and Defect Tolerance in VLSI...
Casa editrice: CRC Press
Data di pubblicazione: 1988
Condizione libro: very good

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1.

Moore, Will
Editore: Adam Hilger (1988)
ISBN 10: 085274398X ISBN 13: 9780852743980
Usato Rilegato Quantità: 1
Da
dsmbooks
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Descrizione libro Adam Hilger, 1988. Hardcover. Condizione libro: As New. As New. book. Codice libro della libreria F5S2-8-Z-085274398X-5

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