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Electromigration And Electronic Device Degradation - Rilegato

Christou

 
9780471584896: Electromigration And Electronic Device Degradation
Rilegato
ISBN 10: 0471584894 ISBN 13: 9780471584896
Casa editrice: New Publisher, 2021
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Addresses electromigration failure modes in electronics covering both theory and experiments. Reviews silicon and GaAs technologies. Various rate controlling details are summarized including an investigation of temperature dependence. Concludes with a discussion regarding current status and future plans for electromigration resistant advanced metallization systems for VLSI.

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  • EditoreNew Publisher
  • Data di pubblicazione2021
  • ISBN 10 0471584894
  • ISBN 13 9780471584896
  • RilegaturaCopertina rigida
  • Numero di pagine343

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9780471584896: Electromigration And Electronic Device Degradation
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Descrizione libro Condizione: New. This study reviews an important reliability issue for both silicon and GaAs technologies. It surveys the status of electromigration physics in microelectronics, and summarizes various rate controlling details. Editor(s): Christou, Aris. Num Pages: 344 pages, black & white illustrations. BIC Classification: PHK; TGPR; TJK; UY. Category: (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly; (XV) Technical / Manuals. Dimension: 236 x 165 x 26. Weight in Grams: 682. . 1993. 1st Edition. Hardcover. . . . . Codice articolo V9780471584896

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