Articoli correlati a Bayesian Approach to Inverse Problems

Bayesian Approach to Inverse Problems ISBN 13: 9781848210325

Bayesian Approach to Inverse Problems - Rilegato

 
9781848210325: Bayesian Approach to Inverse Problems
Vedi tutte le copie di questo ISBN:
 
 
Many scientific, medical or engineering problems raise the issue of recovering some physical quantities from indirect measurements; for instance, detecting or quantifying flaws or cracks within a material from acoustic or electromagnetic measurements at its surface is an essential problem of non-destructive evaluation. The concept of inverse problems precisely originates from the idea of inverting the laws of physics to recover a quantity of interest from measurable data.
Unfortunately, most inverse problems are ill-posed, which means that precise and stable solutions are not easy to devise. Regularization is the key concept to solve inverse problems.
The goal of this book is to deal with inverse problems and regularized solutions using the Bayesian statistical tools, with a particular view to signal and image estimation.
The first three chapters bring the theoretical notions that make it possible to cast inverse problems within a mathematical framework. The next three chapters address the fundamental inverse problem of deconvolution in a comprehensive manner. Chapters 7 and 8 deal with advanced statistical questions linked to image estimation. In the last five chapters, the main tools introduced in the previous chapters are put into a practical context in important applicative areas, such as astronomy or medical imaging.

Le informazioni nella sezione "Riassunto" possono far riferimento a edizioni diverse di questo titolo.

L'autore:
Jérôme Idier was born in France in 1966. He received the diploma degree in electrical engineering from the Ecole Superieure d'Electricité, Gif-sur-Yvette, France, in 1988, the Ph.D. degree in physics from the Universite de Paris-Sud, Orsay, France, in 1991, and the HDR (Habilitation a diriger des recherches) from the same university in 2001. Since 1991, he is a full time researcher at CNRS (Centre National de la Recherche Scientifique). He has been with the Laboratoire des Signaux et Systemes from 1991 to 2002, and with IRCCyN (Institut de Recherches en Cybernetique de Nantes (IRCCyN) since september 2002.
His major scientific interest is in statistical approaches to inverse problems for signal and image processing. More specifically, he studies probabilistic modeling, inference and optimization issues yielded by data processing problems such as denoising, deconvolution, spectral analysis, reconstruction from projections. The investigated applications are mainly non destructive testing, astronomical imaging and biomedical signal processing, and also radar imaging and geophysics. Dr Idier has been involved in joint research programs with several specialized research centers: EDF (Electricite de France), CEA (Commissariat a l'Energie Atomique), CNES (Centre National d'Etudes Spatiales), ONERA (Office National d'Etudes et de Recherches Aerospatiales), Loreal, Thales, Schlumberger.
Product Description:
Book by None

Le informazioni nella sezione "Su questo libro" possono far riferimento a edizioni diverse di questo titolo.

  • EditoreIste/Hermes Science Pub
  • Data di pubblicazione2008
  • ISBN 10 1848210329
  • ISBN 13 9781848210325
  • RilegaturaCopertina rigida
  • Numero edizione1
  • Numero di pagine381
  • RedattoreIdier Jerome

Altre edizioni note dello stesso titolo

9781847040107: Bayesian Approach to Inverse Problems

Edizione in evidenza

ISBN 10:  1847040101 ISBN 13:  9781847040107
Casa editrice: ISTE Ltd, 2007
Rilegato

I migliori risultati di ricerca su AbeBooks

Foto dell'editore

Editor: Jérôme Idier (IRCCyN (Institut de Recherches en Cybernetique de Nantes), France)
Editore: John Wiley and Sons (2008)
ISBN 10: 1848210329 ISBN 13: 9781848210325
Nuovo Rilegato Quantità: > 20
Da:
INDOO
(Avenel, NJ, U.S.A.)
Valutazione libreria

Descrizione libro Condizione: New. Brand New. Codice articolo 1848210329

Informazioni sul venditore | Contatta il venditore

Compra nuovo
EUR 186,52
Convertire valuta

Aggiungere al carrello

Spese di spedizione: EUR 3,73
In U.S.A.
Destinazione, tempi e costi
Immagini fornite dal venditore

Idier, Jerome (EDT)
Editore: Wiley-ISTE (2008)
ISBN 10: 1848210329 ISBN 13: 9781848210325
Nuovo Rilegato Quantità: 2
Da:
GreatBookPrices
(Columbia, MD, U.S.A.)
Valutazione libreria

Descrizione libro Condizione: New. Codice articolo 5510669-n

Informazioni sul venditore | Contatta il venditore

Compra nuovo
EUR 187,81
Convertire valuta

Aggiungere al carrello

Spese di spedizione: EUR 2,47
In U.S.A.
Destinazione, tempi e costi
Foto dell'editore

Ed(s): Idier, Jerome
ISBN 10: 1848210329 ISBN 13: 9781848210325
Nuovo Rilegato Quantità: 15
Valutazione libreria

Descrizione libro Condizione: New. Many scientific, medical or engineering problems raise the issue of recovering some physical quantities from indirect measurements; for instance, detecting or quantifying flaws or cracks within a material from acoustic or electromagnetic measurements at its surface is an essential problem of non-destructive evaluation. Editor(s): Idier, Jerome. Series: ISTE. Num Pages: 392 pages, Illustrations. BIC Classification: MMP; PBT; UYAM; UYT. Category: (UP) Postgraduate, Research & Scholarly. Dimension: 239 x 158 x 25. Weight in Grams: 704. . 2008. . . . . Codice articolo V9781848210325

Informazioni sul venditore | Contatta il venditore

Compra nuovo
EUR 253,10
Convertire valuta

Aggiungere al carrello

Spese di spedizione: EUR 10,50
Da: Irlanda a: U.S.A.
Destinazione, tempi e costi
Immagini fornite dal venditore

Idier, Jerome (EDT)
Editore: Wiley-ISTE (2008)
ISBN 10: 1848210329 ISBN 13: 9781848210325
Nuovo Rilegato Quantità: 2
Da:
GreatBookPricesUK
(Castle Donington, DERBY, Regno Unito)
Valutazione libreria

Descrizione libro Condizione: New. Codice articolo 5510669-n

Informazioni sul venditore | Contatta il venditore

Compra nuovo
EUR 249,84
Convertire valuta

Aggiungere al carrello

Spese di spedizione: EUR 17,45
Da: Regno Unito a: U.S.A.
Destinazione, tempi e costi
Foto dell'editore

Editore: Wiley-ISTE (2008)
ISBN 10: 1848210329 ISBN 13: 9781848210325
Nuovo Rilegato Quantità: 1
Da:
Books Unplugged
(Amherst, NY, U.S.A.)
Valutazione libreria

Descrizione libro Condizione: New. Buy with confidence! Book is in new, never-used condition. Codice articolo bk1848210329xvz189zvxnew

Informazioni sul venditore | Contatta il venditore

Compra nuovo
EUR 275,28
Convertire valuta

Aggiungere al carrello

Spese di spedizione: GRATIS
In U.S.A.
Destinazione, tempi e costi
Foto dell'editore

Ed(s): Idier, Jerome
ISBN 10: 1848210329 ISBN 13: 9781848210325
Nuovo Rilegato Quantità: 15
Da:
Kennys Bookstore
(Olney, MD, U.S.A.)
Valutazione libreria

Descrizione libro Condizione: New. Many scientific, medical or engineering problems raise the issue of recovering some physical quantities from indirect measurements; for instance, detecting or quantifying flaws or cracks within a material from acoustic or electromagnetic measurements at its surface is an essential problem of non-destructive evaluation. Editor(s): Idier, Jerome. Series: ISTE. Num Pages: 392 pages, Illustrations. BIC Classification: MMP; PBT; UYAM; UYT. Category: (UP) Postgraduate, Research & Scholarly. Dimension: 239 x 158 x 25. Weight in Grams: 704. . 2008. . . . . Books ship from the US and Ireland. Codice articolo V9781848210325

Informazioni sul venditore | Contatta il venditore

Compra nuovo
EUR 329,15
Convertire valuta

Aggiungere al carrello

Spese di spedizione: EUR 9,81
In U.S.A.
Destinazione, tempi e costi