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Über die Wechselwirkung kurzer Ermüdungsrisse mit Korngrenzen - Systematische Experimente mit Focussed Ion Beam Microscope und mikrostruktureller Tomographie - Brossura

Schäf, Wolfgang

 
9783844002195: Über die Wechselwirkung kurzer Ermüdungsrisse mit Korngrenzen - Systematische Experimente mit Focussed Ion Beam Microscope und mikrostruktureller Tomographie
Brossura
ISBN 10: 3844002197 ISBN 13: 9783844002195
Casa editrice: Shaker Verlag, 2011
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  • EditoreShaker Verlag
  • Data di pubblicazione2011
  • ISBN 10 3844002197
  • ISBN 13 9783844002195
  • RilegaturaCopertina flessibile
  • Numero di pagine190

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