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Optimization and Characterization of GaN-based High Electron Mobility Transistors - Brossura

 
9783844006834: Optimization and Characterization of GaN-based High Electron Mobility Transistors
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  • EditoreShaker Verlag GmbH, Germany
  • Data di pubblicazione2012
  • ISBN 10 3844006834
  • ISBN 13 9783844006834
  • RilegaturaCopertina flessibile
  • Numero di pagine165

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