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BHATTACHARYA, DEBASHIS; HAYES, JOHN P (21 risultati)
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Hardcover. Condizione: New. US SELLER SHIPS FAST FROM USA.
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Hierarchical Modeling for VLSI Circuit Testing (The Springer International Series in Engineering and Computer Science)
Da: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 102,70
EUR 3,43 shipping
Ships within U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Hierarchical Modeling for Vlsi Circuit Testing
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: New.
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Hierarchical Modeling for VLSI Circuit Testing (The Springer International Series in Engineering and Computer Science, 89)
Da: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 103,03
EUR 3,43 shipping
Ships within U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Hierarchical Modelling for Very Large Scale Integration Circuit Testing (Kluwer International Series in Engineering & Computer Science, Vlsi, Computer Architecture & Digit)
Editore: Kluwer Academic Publishers, 1989
ISBN 10: 079239058X ISBN 13: 9780792390589
Lingua: Inglese
Da: New Book Sale, London, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 56,48
EUR 57,24 shipping
Ships from Regno Unito to U.S.A.Quantità: 5 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: New. Usually Dispatched within 1-2 Business Days , Buy with confidence , excellent customer service.
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Hierarchical Modeling for VLSI Circuit Testing (The Springer International Series in Engineering and Computer Science, 89)
Da: California Books, Miami, FL, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 116,80
Spedizione gratuita
Ships within U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Hierarchical Modeling for VLSI Circuit Testing (The Springer International Series in Engineering and Computer Science, 89)
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 111,19
EUR 13,71 shipping
Ships from Regno Unito to U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. In.
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Hierarchical Modeling for VLSI Circuit Testing (The Springer International Series in Engineering and Computer Science)
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 111,19
EUR 13,71 shipping
Ships from Regno Unito to U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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Hierarchical Modeling for Vlsi Circuit Testing
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: As New. Unread book in perfect condition.
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Hierarchical Modeling for Vlsi Circuit Testing
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 111,18
EUR 17,17 shipping
Ships from Regno Unito to U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Hierarchical Modeling for VLSI Circuit Testing
Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Condizione: New. pp. 176.
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Hierarchical Modeling for VLSI Circuit Testing
Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Condizione: New. pp. 176.
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Hierarchical Modeling for Vlsi Circuit Testing
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 127,03
EUR 17,17 shipping
Ships from Regno Unito to U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: As New. Unread book in perfect condition.
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EUR 115,37
EUR 48,99 shipping
Ships from Germania to U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloGebunden. Condizione: New. Test generation is one of the most difficult tasks facing the designer of complex VLSI-based digital systems. Much of this difficulty is attributable to the almost universal use in testing of low, gate-level circuit and fault models that predate integrated .
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Hierarchical Modeling for VLSI Circuit Testing (The Springer International Series in Engineering and Computer Science (89))
Da: Mispah books, Redhill, SURRE, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 161,53
EUR 28,62 shipping
Ships from Regno Unito to U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloPaperback. Condizione: Like New. Like New. book.
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Hierarchical Modeling for VLSI Circuit Testing
Da: Celler Versandantiquariat, Eicklingen, Germania
Membro dell'associazione: GIAQ
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 16,00
EUR 38,00 shipping
Ships from Germania to U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloKluwer, Boston, 1990. X, 159 pages with some graphics, hard cover----former library book in good condition- 460 Gramm.
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EUR 92,27
EUR 48,99 shipping
Ships from Germania to U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Test generation is one of the most difficult tasks facing the designer of complex VLSI-based digital systems. Much of this difficulty is attributable to the almost universal use in testing of low, gate-level circuit and fault models that predate integrated .
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Hierarchical Modeling for VLSI Circuit Testing
Da: Majestic Books, Hounslow, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 144,46
EUR 7,44 shipping
Ships from Regno Unito to U.S.A.Quantità: 4 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. Print on Demand pp. 176 49:B&W 6.14 x 9.21 in or 234 x 156 mm (Royal 8vo) Perfect Bound on White w/Gloss Lam.
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Hierarchical Modeling for VLSI Circuit Testing
Da: Majestic Books, Hounslow, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 146,87
EUR 7,44 shipping
Ships from Regno Unito to U.S.A.Quantità: 4 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. Print on Demand pp. 176 52:B&W 6.14 x 9.21in or 234 x 156mm (Royal 8vo) Case Laminate on White w/Gloss Lam.
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Hierarchical Modeling for VLSI Circuit Testing
Da: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Germania
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 148,32
EUR 9,95 shipping
Ships from Germania to U.S.A.Quantità: 4 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. PRINT ON DEMAND pp. 176.
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Hierarchical Modeling for VLSI Circuit Testing
Da: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Germania
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 150,00
EUR 9,95 shipping
Ships from Germania to U.S.A.Quantità: 4 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. PRINT ON DEMAND pp. 176.
