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agrawal vishwani (69 risultati)
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EUR 6,17
Spedizione EUR 16,50
Spedito da Francia a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: Bon. Ancien livre de bibliothèque. Petite(s) trace(s) de pliure sur la couverture. Légères traces d'usure sur la couverture. Salissures sur la tranche. Couverture différente. Edition 1988. Ammareal reverse jusqu'à 15% du prix net de cet article à des organisat ENGLISH DESCRIPTION Book Condition: Used, Good. Former library book. Slightly creased cover. Slight signs of wear on the cover. Stains on the edge. Different cover. Edition 1988. Ammareal gives back up to 15% of this item's net price to charity organizations.
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Hardcover. Condizione: Good. Connecting readers with great books since 1972! Used textbooks may not include companion materials such as access codes, etc. May have some wear or writing/highlighting. We ship orders daily and Customer Service is our top priority!
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Essentials of Electronic Testing for Digital, Memory and Mixed-Signal VLSI Circuits (Frontiers in Electronic Testing, 17)
Libro 9 di 40: Frontiers in Electronic TestingDa: Goodwill Books, Hillsboro, OR, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: good. Signs of wear and consistent use.
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Tutorial: Test Generation for Vlsi Chips
Lingua: Inglese
Editore: IEEE Computer Society Press,U.S., 1988
ISBN 10: 081868786X ISBN 13: 9780818687860
Da: avelibro OHG, Dinkelscherben, Germania
Membro dell'associazione: BOEV
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 29,00
Spedizione EUR 10,00
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrello4°, Gebundene Ausgabe. Condizione: Sehr gut. 400 Seiten Ausgetragenes Bibliotheksexemplar, Einband leicht berieben, Papier in altersgemäßem sehr gutem Zustand. B02-03-01F Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 1305.
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Unified Methods for VLSI Simulation and Test Generation (The Springer International Series in Engineering and Computer Science, 73)
Da: Goodwill of Silicon Valley, SAN JOSE, CA, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Condizione: acceptable. Supports Goodwill of Silicon Valley job training programs. The cover and pages are in Acceptable condition! Any other included accessories are also in Acceptable condition showing use. Use can include some highlighting and writing, page and cover creases as well as other types visible wear such as cover tears discoloration, staining, marks, scuffs, etc. All pages intact.
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Essentials of Electronic Testing for Digital, Memory and Mixed-Signal VLSI Circuits: 17 (Frontiers in Electronic Testing, 17)
Libro 9 di 40: Frontiers in Electronic TestingLingua: Inglese
Editore: Kluwer Academic Publishers, USA, 2004
ISBN 10: 0792379918 ISBN 13: 9780792379911
EUR 35,36
Spedizione EUR 28,61
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: Very Good. No Jacket. Slight knock to front and back. Previous owner's name and date on top corner of front page. Black and white illustrations. Clean copy - appears as new and unused.
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Hardcover. Condizione: New. US SELLER SHIPS FAST FROM USA.
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Neural Models and Algorithms for Digital Testing
Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Condizione: New. pp. 204.
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Essentials of Electronic Testing for Digital, Memory and Mixed-Signal VLSI Circuits
Libro 9 di 40: Frontiers in Electronic TestingDa: ThriftBooks-Dallas, Dallas, TX, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Paperback. Condizione: Very Good. No Jacket. May have limited writing in cover pages. Pages are unmarked. ~ ThriftBooks: Read More, Spend Less.
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Neural Models and Algorithms for Digital Testing
Da: Majestic Books, Hounslow, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 93,47
Spedizione EUR 7,44
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. pp. 204 52:B&W 6.14 x 9.21in or 234 x 156mm (Royal 8vo) Case Laminate on White w/Gloss Lam.
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Neural Models and Algorithms for Digital Testing
Da: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Germania
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 94,14
Spedizione EUR 9,95
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. pp. 204.
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Neural Models and Algorithms for Digital Testing
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: New.
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Essentials of Electronic Testing for Digital, Memory and Mixed-Signal VLSI Circuits (Frontiers in Electronic Testing, 17)
Libro 9 di 40: Frontiers in Electronic TestingDa: BennettBooksLtd, Los Angeles, CA, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
hardcover. Condizione: New. In shrink wrap. Looks like an interesting title!
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Unified Methods for VLSI Simulation and Test Generation:
Da: avelibro OHG, Dinkelscherben, Germania
Membro dell'associazione: BOEV
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 110,00
Spedizione EUR 10,00
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrello8° , Hardcover/Pappeinband. Condizione: Sehr gut. XII, 148 Seiten. Mit Illustrationen. Ausgetragenes Bibliotheksexemplar mit Inventaraufkleber auf Rücken und Vorsatz. Leihkarte in Tasche am Nachsatz. In sehr gutem Zustand. DE-10-19e Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 435.
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Concurrent and Comparative Discrete Event Simulation
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 111,14
Spedizione EUR 13,71
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. In.
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Neural Models and Algorithms for Digital Testing
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 107,50
Spedizione EUR 17,16
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Concurrent and Comparative Discrete Event Simulation
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 125,93
Spedizione EUR 2,28
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Concurrent and Comparative Discrete Event Simulation
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 111,51
Spedizione EUR 17,16
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Neural Models and Algorithms for Digital Testing
Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Condizione: New. pp. 204.
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Concurrent and Comparative Discrete Event Simulation
Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Condizione: New. pp. 208.
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Tutorial: Test Generation for Vlsi Chips
Lingua: Inglese
Editore: IEEE Computer Society Press,U.S., 1988
ISBN 10: 081868786X ISBN 13: 9780818687860
EUR 29,61
Spedizione EUR 105,00
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Seiten: 400 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | Keine Beschreibung verfügbar.
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EUR 92,27
Spedizione EUR 48,99
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloGebunden. Condizione: New.
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EUR 92,27
Spedizione EUR 48,99
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Unified Methods for VLSI Simulation and Test Generation
Lingua: Inglese
Editore: Kluwer Academic Publishers, 1989
ISBN 10: 0792390253 ISBN 13: 9780792390251
Da: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, Irlanda
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 134,19
Spedizione EUR 10,50
Spedito da Irlanda a U.S.A.Quantità: 15 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. Series: The Springer International Series in Engineering and Computer Science. Num Pages: 148 pages, biography. BIC Classification: TJF. Category: (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly. Dimension: 234 x 156 x 11. Weight in Grams: 410. . 1989. Hardback. . . . .
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Neural Models and Algorithms for Digital Testing
Lingua: Inglese
Editore: Kluwer Academic Publishers, 1991
ISBN 10: 0792391659 ISBN 13: 9780792391654
Da: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, Irlanda
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 135,06
Spedizione EUR 10,50
Spedito da Irlanda a U.S.A.Quantità: 15 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. Series: The Springer International Series in Engineering and Computer Science. Num Pages: 197 pages, biography. BIC Classification: T; UY. Category: (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly. Dimension: 234 x 156 x 12. Weight in Grams: 1030. . 1991. Hardback. . . . .
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Concurrent and Comparative Discrete Event Simulation
Lingua: Inglese
Editore: Kluwer Academic Publishers, 1993
ISBN 10: 0792394119 ISBN 13: 9780792394112
Da: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, Irlanda
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 135,12
Spedizione EUR 10,50
Spedito da Irlanda a U.S.A.Quantità: 15 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. In the design experimentation of nuclear power plant operations, many scenarios can be simulated to derive desirable designs or safe operating procedures. Concurrent fault simulation is a technique in the computer aided design of digital systems. This book covers an application area in the scientific and business world. Num Pages: 186 pages, biography. BIC Classification: TJFC; UY. Category: (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly; (UU) Undergraduate. Dimension: 234 x 156 x 12. Weight in Grams: 470. . 1993. Hardback. . . . .
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Essentials of Electronic Testing for Digital, Memory, and Mixed-Signal Vlsi Circuits
Libro 9 di 40: Frontiers in Electronic TestingDa: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 149,68
Spedizione EUR 2,28
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Essentials of Electronic Testing for Digital, Memory, and Mixed-Signal Vlsi Circuits
Libro 9 di 40: Frontiers in Electronic TestingDa: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 134,70
Spedizione EUR 17,16
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Essentials of Electronic Testing for Digital, Memory, and Mixed-Signal Vlsi Circuits
Libro 9 di 40: Frontiers in Electronic TestingDa: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 154,42
Spedizione EUR 2,28
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: As New. Unread book in perfect condition.
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Neural Models and Algorithms for Digital Testing
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 139,06
Spedizione EUR 17,16
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: As New. Unread book in perfect condition.
