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al hashimi bashir (111 risultati)
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System-on-Chip: Next Generation Electronics (Circuits, Devices and Systems) (Circuits, Devices and Systems)
Editore: Institution of Engineering and T, 2006
ISBN 10: 0863415520 ISBN 13: 9780863415524
Lingua: Inglese
Da: Books From California, Simi Valley, CA, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Hardcover. Condizione: Fine. Sealed in original plastic with major tearing.
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System on Chip: Next Generation Electronics (Volume 18)
Editore: Institution Of Engineering And Technology, 2006
ISBN 10: 0863415520 ISBN 13: 9780863415524
Lingua: Inglese
EUR 11,09
EUR 17,09 per la spedizione da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: Good. Volume 18. This is an ex-library book and may have the usual library/used-book markings inside.This book has hardback covers. In good all round condition. Please note the Image in this listing is a stock photo and may not match the covers of the actual item,1550grams, ISBN:9780863415524.
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System-on-Chip: Next Generation Electronics (Volume 18)
Editore: Institution Of Engineering And Technology, 2006
ISBN 10: 0863415520 ISBN 13: 9780863415524
Lingua: Inglese
EUR 11,94
EUR 17,09 per la spedizione da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: Fair. Volume 18. This is an ex-library book and may have the usual library/used-book markings inside.This book has hardback covers. In fair condition, suitable as a study copy. Please note the Image in this listing is a stock photo and may not match the covers of the actual item,1550grams, ISBN:9780863415524.
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Power-Constrained Testing of VLSI Circuits: A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard (Frontiers in Electronic Testing) Nicolici, Nicola and Al-Hashimi, Bashir M.
Da: CONTINENTAL MEDIA & BEYOND, Ocala, FL, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Hardcover. Condizione: Used: Good. 2003 hardcover no dj as issued xlibrary copy withdrawn stamp on edge of pages/ in book clean text 178 pages::: J-10.
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System on Chip: Next Generation Electronics (Volume 18)
Editore: Institution Of Engineering And Technology, 2006
ISBN 10: 0863415520 ISBN 13: 9780863415524
Lingua: Inglese
EUR 16,14
EUR 17,09 per la spedizione da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: Good. Volume 18. This is an ex-library book and may have the usual library/used-book markings inside.This book has hardback covers. In good all round condition. Please note the Image in this listing is a stock photo and may not match the covers of the actual item,1550grams, ISBN:9780863415524.
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The Art of Simulation Using PSPICEAnalog and Digital
Da: Better World Books, Mishawaka, IN, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: Very Good. Former library book; may include library markings. Used book that is in excellent condition. May show signs of wear or have minor defects.
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hardcover. Condizione: Good. Connecting readers with great books since 1972! Used textbooks may not include companion materials such as access codes, etc. May have some wear or writing/highlighting. We ship orders daily and Customer Service is our top priority!
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Power-Constrained Testing of VLSI Circuits (Frontiers in Electronic Testing)
Da: Zubal-Books, Since 1961, Cleveland, OH, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: Good. 178 pp., Hardcover, ex library else text clean and binding tight. - If you are reading this, this item is actually (physically) in our stock and ready for shipment once ordered. We are not bookjackers. Buyer is responsible for any additional duties, taxes, or fees required by recipient's country.
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System on Chip: Next Generation Electronics
Editore: Institution Of Engineering And Technology, 2006
ISBN 10: 0863415520 ISBN 13: 9780863415524
Lingua: Inglese
EUR 31,86
EUR 17,09 per la spedizione da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: Good. This is an ex-library book and may have the usual library/used-book markings inside.This book has hardback covers. Clean from markings With owner's name inside cover. In good all round condition. Please note the Image in this listing is a stock photo and may not match the covers of the actual item,1550grams, ISBN:9780863415524.
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System on Chip : Next Generation Electronics
Editore: The Institution of Electrical Engineers, London, 2006
Da: PsychoBabel & Skoob Books, Didcot, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 40,35
EUR 10,82 per la spedizione da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrellohardcover. Condizione: Very Good. Condizione sovraccoperta: No Dust Jacket. Hard cover with no jacket. Book is in very good condition. Very light wear in a few places at edges and corners. Previous owner's name to FEP. Thin mark vertically down inside of cover. Contents are otherwise clean, bright and tight. J. Used.
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System-level Design Techniques For Energy-efficient Embedded Systems
Da: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: New. This is a Brand-new US Edition. This Item may be shipped from US or any other country as we have multiple locations worldwide.
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System-Level Design Techniques for Energy-Efficient Embedded Systems
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 101,93
EUR 2,26 per la spedizione in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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EUR 104,27
Gratis per la spedizione da Australia a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloBrand new book. Fast ship. Please provide full street address as we are not able to ship to P O box address.
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Power-constrained Testing of Vlsi Circuits
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 103,74
EUR 2,26 per la spedizione in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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System-Level Design Techniques for Energy-Efficient Embedded Systems
Da: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 102,56
EUR 3,42 per la spedizione in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Power-Constrained Testing of VLSI Circuits: A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard (Frontiers in Electronic Testing)
Da: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 102,56
EUR 3,42 per la spedizione in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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System-Level Design Techniques for Energy-Efficient Embedded Systems
Da: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 102,89
EUR 3,42 per la spedizione in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Power-Constrained Testing of VLSI Circuits: A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard (Frontiers in Electronic Testing, 22B)
Da: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 102,89
EUR 3,42 per la spedizione in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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System-on-Chip: Next generation electronics (Materials, Circuits and Devices)
Editore: The Institution of Engineering and Technology, 2006
ISBN 10: 0863415520 ISBN 13: 9780863415524
Lingua: Inglese
Da: DeckleEdge LLC, Albuquerque, NM, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
hardcover. Condizione: new.
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System-Level Design Techniques for Energy-Efficient Embedded Systems
Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Condizione: New. pp. 220.
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System-Level Design Techniques for Energy-Efficient Embedded Systems
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 110,43
EUR 13,65 per la spedizione da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. In.
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Power-Constrained Testing of VLSI Circuits: A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard (Frontiers in Electronic Testing, 22B)
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 110,43
EUR 13,65 per la spedizione da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. In.
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Power-Constrained Testing of VLSI Circuits: A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard (Frontiers in Electronic Testing)
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 110,43
EUR 13,65 per la spedizione da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. In.
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Power-constrained Testing of Vlsi Circuits
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 110,42
EUR 17,09 per la spedizione da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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System-Level Design Techniques for Energy-Efficient Embedded Systems
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 110,42
EUR 17,09 per la spedizione da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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System-Level Design Techniques for Energy-Efficient Embedded Systems
Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Condizione: New. pp. 214.
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System-Level Design Techniques for Energy-Efficient Embedded Systems
Da: Majestic Books, Hounslow, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 126,36
EUR 7,40 per la spedizione da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. pp. 220 Illus.
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Many-core Computing : Hardware and Software
Editore: The Institution of Engineering and Technology, 2019
ISBN 10: 1785615823 ISBN 13: 9781785615825
Lingua: Inglese
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 132,37
EUR 2,26 per la spedizione in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Many-Core Computing: Hardware and software (Computing and Networks)
Editore: The Institution of Engineering and Technology, 2019
ISBN 10: 1785615823 ISBN 13: 9781785615825
Lingua: Inglese
Da: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 131,19
EUR 3,42 per la spedizione in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
