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CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies: Process-Aware SRAM Design and Test (Frontiers in Electronic Testing, 40)
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 158,22
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CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies (Frontiers in Electronic Testing, 40)
Da: Patrico Books, Apollo Beach, FL, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 73,91
Convertire valutaEUR 92,26 per la spedizione da U.S.A. a ItaliaQuantità: 1 disponibili
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Cmos Sram Circuit Design and Parametric Test in Nano-scaled Technologies : Process-aware Sram Design and Test
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 167,00
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CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies : Process-Aware SRAM Design and Test
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 167,32
Convertire valutaEUR 17,08 per la spedizione da U.S.A. a ItaliaQuantità: 15 disponibili
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Cmos Sram Circuit Design and Parametric Test in Nano-scaled Technologies : Process-aware Sram Design and Test
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 197,48
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CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies : Process-Aware SRAM Design and Test
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 197,86
Convertire valutaEUR 17,08 per la spedizione da U.S.A. a ItaliaQuantità: 15 disponibili
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CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies: Process-Aware SRAM Design and Test (Frontiers in Electronic Testing, 40)
Da: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 165,83
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EUR 144,94
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Aggiungi al carrelloCondizione: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Gives a process-aware perspective on SRAM circuit design and testProvides detailed coverage of SRAM cell stability, stability sensitivity and analytical evaluation of Static Noise MarginIntroduces the concept of stability fault modelling.
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EUR 146,12
Convertire valutaEUR 9,70 per la spedizione da Germania a ItaliaQuantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloGebunden. Condizione: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Gives a process-aware perspective on SRAM circuit design and testProvides detailed coverage of SRAM cell stability, stability sensitivity and analytical evaluation of Static Noise MarginIntroduces the concept of stability fault modelling.
