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kundu sandip (50 risultati)
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Valutazione venditore
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Testing and Reliable Design of CMOS Circuits
Da: ThriftBooks-Atlanta, AUSTELL, GA, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Hardcover. Condizione: Very Good. No Jacket. May have limited writing in cover pages. Pages are unmarked. ~ ThriftBooks: Read More, Spend Less.
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Testing and Reliable Design of CMOS Circuits (The Kluwer International Series in Engineering and Computer Science, 88)
Lingua: Inglese
Editore: Kluwer Academic Publishers, 1990
ISBN 10: 0792390563 ISBN 13: 9780792390565
Da: Recycle Bookstore, San Jose, CA, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Hardcover. Condizione: Very Good. This book has mild rubbing and surface scratching to both covers, light smudging to both covers most notable at the back cover, and faint smudging to the edges of the textblock, otherwise this book is in very good condition with crisp, unmarked pages, a tight binding, and a strong, glossy cover.
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Nanoscale CMOS VLSI Circuits: Design for Manufacturability
Da: Gate City Books, GREENSBORO, NC, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: good. USED book in GOOD condition. Great binding, pages and cover show normal signs of wear from use.
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Nanoscale CMOS VLSI Circuits: Design for Manufacturability
Da: Solr Books, Lincolnwood, IL, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: very_good. This books is in Very good condition. There may be a few flaws like shelf wear and some light wear.
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Testing and Reliable Design of CMOS Circuits
Lingua: Inglese
Editore: Kluwer Academic Publishers, Boston, MA, U. S. A., 1990
ISBN 10: 0792390563 ISBN 13: 9780792390565
Da: PsychoBabel & Skoob Books, Didcot, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Prima edizione
EUR 17,35
Spedizione EUR 14,37
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrellohardcover. Condizione: Very Good. Condizione sovraccoperta: No Dust Jacket. First Edition. Printed boards, no jacket. Exterior a little worn, grubby; previous owner's name on FEP; contents otherwise clean, sound, bright. TPW. Used.
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Testing and Reliable Design of CMOS Circuits
Lingua: Inglese
Editore: Kluwer Academic Publishers, Boston, 1990
ISBN 10: 0792390563 ISBN 13: 9780792390565
Da: PsychoBabel & Skoob Books, Didcot, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 17,35
Spedizione EUR 14,37
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrellohardcover. Condizione: Very Good. Condizione sovraccoperta: No Dust Jacket. Name from previous owner on FEP. No dust jacket. Binding is very well preserved, though with light surface wear to covers. Pages are clean and crisp, and printing is tight, clean and bright throughout. MB. Used.
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Testing and Reliable Design of CMOS Circuits
Lingua: Inglese
Editore: Kluwer Academic Publishers, Boston, 1990
ISBN 10: 0792390563 ISBN 13: 9780792390565
Da: K & L KICKIN' BOOKS, Corinth, TX, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Prima edizione
Hardcover. Condizione: Very Good. Condizione sovraccoperta: No Dj. First Edition. Owner's name is signed.
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How to write a Dissertation? An example with its merits & demerits: A Cross-Sectional survey of Chronic Kidney Disease in a Tertiary Care Hospital in Eastern Region of India
Lingua: Inglese
Editore: LAP LAMBERT Academic Publishing, 2017
ISBN 10: 6202021780 ISBN 13: 9786202021784
Da: Revaluation Books, Exeter, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 59,67
Spedizione EUR 11,50
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloPaperback. Condizione: Brand New. 100 pages. 8.66x5.91x0.23 inches. In Stock.
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Nanoscale CMOS VLSI Circuits: Design for Manufacturability
Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Condizione: New. pp. xv + 296.
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Nanoscale CMOS VLSI Circuits: Design for Manufacturability
Da: Majestic Books, Hounslow, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 73,88
Spedizione EUR 7,47
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. pp. xv + 296 Illus.
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Nanoscale CMOS VLSI Circuits: Design for Manufacturability
Da: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Germania
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 76,78
Spedizione EUR 9,95
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. pp. xv + 296.
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Nanoscale CMOS VLSI Circuits: Design For Manufacturability
Da: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: New. This is a Brand-new US Edition. This Item may be shipped from US or any other country as we have multiple locations worldwide.
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How to write a Dissertation? An example with its merits & demerits
Lingua: Inglese
Editore: LAP LAMBERT Academic Publishing Aug 2017, 2017
ISBN 10: 6202021780 ISBN 13: 9786202021784
Da: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Germania
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 32,90
Spedizione EUR 60,00
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloTaschenbuch. Condizione: Neu. Neuware -Most of the post graduate medical and health sciences students often face difficulties in doing their dissertation or thesis work. This book may serve as a guide book to them as well as to the new researchers and junior teachers for their thesis/dissertation work. Diabetes has many complications. One such major chronic complication of poorly controlled diabetes is diabetic nephropathy which may lead to end stage renal disease (ESRD). Monitoring for blood sugar control and screening for microalbuminuria and timely treatment has become the standard care of diabetic patients all over the world. This tertiary care hospital based cross sectional study is an attempt to show the association of HbA1c (which is a marker of long term glycemic control) with the two important markers of renal impairments: urinary ACR (which reflects microalbuminuria) and eGFR (marker of creatinine clearance rate or CCR) in type 2 diabetics and to measure the prevalence of CKD in type 2 diabetes patients in eastern region of India where very few data are available.Books on Demand GmbH, Überseering 33, 22297 Hamburg 100 pp. Englisch.
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How to write a Dissertation? An example with its merits & demerits | A Cross-Sectional survey of Chronic Kidney Disease in a Tertiary Care Hospital in Eastern Region of India
Lingua: Inglese
Editore: LAP LAMBERT Academic Publishing, 2017
ISBN 10: 6202021780 ISBN 13: 9786202021784
EUR 29,40
Spedizione EUR 70,00
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 5 disponibili
Aggiungi al carrelloTaschenbuch. Condizione: Neu. How to write a Dissertation? An example with its merits & demerits | A Cross-Sectional survey of Chronic Kidney Disease in a Tertiary Care Hospital in Eastern Region of India | Sandip Kumar Kundu | Taschenbuch | 100 S. | Englisch | 2017 | LAP LAMBERT Academic Publishing | EAN 9786202021784 | Verantwortliche Person für die EU: BoD - Books on Demand, In de Tarpen 42, 22848 Norderstedt, info[at]bod[dot]de | Anbieter: preigu.
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EUR 13,73
Spedizione EUR 105,00
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Seiten: 260 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | In the last few years CMOS technology has become increas ingly dominant for realizing Very Large Scale Integrated (VLSI) circuits. The popularity of this technology is due to its high den sity and low power requirement. The ability to realize very com plex circuits on a single chip has brought about a revolution in the world of electronics and computers. However, the rapid advance ments in this area pose many new problems in the area of testing. Testing has become a very time-consuming process. In order to ease the burden of testing, many schemes for designing the circuit for improved testability have been presented. These design for testability techniques have begun to catch the attention of chip manufacturers. The trend is towards placing increased emphasis on these techniques. Another byproduct of the increase in the complexity of chips is their higher susceptibility to faults. In order to take care of this problem, we need to build fault-tolerant systems. The area of fault-tolerant computing has steadily gained in importance. Today many universities offer courses in the areas of digital system testing and fault-tolerant computing. Due to the impor tance of CMOS technology, a significant portion of these courses may be devoted to CMOS testing. This book has been written as a reference text for such courses offered at the senior or graduate level. Familiarity with logic design and switching theory is assumed. The book should also prove to be useful to professionals working in the semiconductor industry.
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Nanoscale CMOS VLSI Circuits: Design for Manufacturability
Da: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 140,78
Spedizione EUR 3,37
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Testing and Reliable Design of Cmos Circuits
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 156,32
Spedizione EUR 2,23
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Testing and Reliable Design of CMOS Circuits (The Springer International Series in Engineering and Computer Science, 88)
Da: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 155,16
Spedizione EUR 3,37
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Testing and Reliable Design of CMOS Circuits (The Springer International Series in Engineering and Computer Science)
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 159,07
Spedizione EUR 13,78
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. In.
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Testing and Reliable Design of CMOS Circuits (The Springer International Series in Engineering and Computer Science, 88)
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 159,07
Spedizione EUR 13,78
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. In.
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Nanoscale CMOS VLSI Circuits : Design for Manufacturability
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 172,75
Spedizione EUR 2,23
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: As New. Unread book in perfect condition.
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Testing and Reliable Design of CMOS Circuits (The Springer International Series in Engineering and Computer Science, 88)
Da: California Books, Miami, FL, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 175,57
Spedizione gratuita
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Testing and Reliable Design of Cmos Circuits
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 159,06
Spedizione EUR 17,25
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Testing and Reliable Design of Cmos Circuits
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 178,83
Spedizione EUR 2,23
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: As New. Unread book in perfect condition.
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EUR 136,16
Spedizione EUR 48,99
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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EUR 136,16
Spedizione EUR 48,99
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Nanoscale CMOS VLSI Circuits : Design for Manufacturability
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 178,97
Spedizione EUR 17,25
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: As New. Unread book in perfect condition.
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Testing and Reliable Design of Cmos Circuits
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 180,35
Spedizione EUR 17,25
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: As New. Unread book in perfect condition.
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Testing and Reliable Design of CMOS Circuits
Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Condizione: New. pp. 248.
