Importo totale (1 articolo articoli):
Destinazione ordine:
zorian yervant (99 risultati)
Vai alla pagina principale dei risultati di ricerca
Filtri di ricerca
Tipo di articolo
- Tutti i tipi di prodotto
- Libri (99)
- Riviste e Giornali (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Fumetti (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Spartiti (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Arte, Stampe e Poster (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Fotografie (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Mappe (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Manoscritti e Collezionismo cartaceo (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
Condizioni Maggiori informazioni
- Nuovo (78)
- Come nuovo, Ottimo o Quasi ottimo (14)
- Molto buono o Buono (6)
- Discreto o Mediocre (1)
- Come descritto (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
Legatura
Ulteriori caratteristiche
- Prima ed. (1)
- Copia autograf. (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Sovracoperta (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Con foto (38)
- Non Print on Demand (73)
Lingua (1)
Spedizione gratuita
Paese del venditore
Valutazione venditore
-
Principles of Testing Electronic Systems
Da: Cycle Books LA, South el monte, CA, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
hardcover. Condizione: Acceptable. Spend Less, Read More.
-
Hardcover. Condizione: Good. Connecting readers with great books since 1972! Used textbooks may not include companion materials such as access codes, etc. May have some wear or writing/highlighting. We ship orders daily and Customer Service is our top priority!
-
Principles of Testing Electronic Systems
Da: ThriftBooks-Dallas, Dallas, TX, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Hardcover. Condizione: Good. No Jacket. Former library book; Pages can have notes/highlighting. Spine may show signs of wear. ~ ThriftBooks: Read More, Spend Less.
-
Principles of Testing Electronic Systems
Lingua: Inglese
Editore: Wiley & Sons, Incorporated, John, 2000
ISBN 10: 0471319317 ISBN 13: 9780471319313
Da: Better World Books Ltd, Dunfermline, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Prima edizione
EUR 13,09
Spedizione EUR 5,74
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: Good. 1st Edition. Former library copy. Pages intact with minimal writing/highlighting. The binding may be loose and creased. Dust jackets/supplements are not included. Includes library markings. Stock photo provided. Product includes identifying sticker. Better World Books: Buy Books. Do Good.
-
Principles of Testing Electronic Systems
Da: Recycle Bookstore, San Jose, CA, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Hardcover. Condizione: Near Fine. This book has mild rubbing and surface scratching to both covers, otherwise it is in excellent, like new condition with crisp, unmarked pages, a tight binding, and a strong, clean cover.
-
Collaboration and Technology : 21st International Conference, Criwg 2015
Libro 41 di 58: Lecture Notes in Computer ScienceDa: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 52,81
Spedizione EUR 2,22
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
-
Collaboration and Technology: 21st International Conference, CRIWG 2015, Yerevan, Armenia, September 22-25, 2015, Proceedings (Information Systems and Applications, incl. Internet/Web, and HCI)
Libro 41 di 58: Lecture Notes in Computer ScienceDa: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 51,64
Spedizione EUR 3,36
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
-
Collaboration and Technology : 21st International Conference, Criwg 2015
Libro 41 di 58: Lecture Notes in Computer ScienceDa: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 56,29
Spedizione EUR 2,22
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: As New. Unread book in perfect condition.
-
Collaboration and Technology: 21st International Conference, CRIWG 2015, Yerevan, Armenia, September 22-25, 2015, Proceedings (Lecture Notes in Computer Science)
Libro 41 di 58: Lecture Notes in Computer ScienceDa: Chiron Media, Wallingford, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 50,17
Spedizione EUR 17,77
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 10 disponibili
Aggiungi al carrelloPaperback. Condizione: New.
-
Collaboration and Technology: 21st International Conference, CRIWG 2015, Yerevan, Armenia, September 22-25, 2015, Proceedings (Information Systems and Applications, incl. Internet/Web, and HCI)
Libro 41 di 58: Lecture Notes in Computer ScienceDa: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 52,35
Spedizione EUR 13,74
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. In.
-
Collaboration and Technology : 21st International Conference, Criwg 2015
Libro 41 di 58: Lecture Notes in Computer ScienceDa: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 53,10
Spedizione EUR 17,21
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
-
Collaboration and Technology : 21st International Conference, Criwg 2015
Libro 41 di 58: Lecture Notes in Computer ScienceDa: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 58,86
Spedizione EUR 17,21
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: As New. Unread book in perfect condition.
-
Low-Power Electronics Design: 1 (Computer Engineering Series)
Libro 2 di 7: Computer Engineering SeriesDa: Bahamut Media, Reading, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 73,40
Spedizione EUR 8,01
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: Very Good. Shipped within 24 hours from our UK warehouse. Clean, undamaged book with no damage to pages and minimal wear to the cover. Spine still tight, in very good condition. Remember if you are not happy, you are covered by our 100% money back guarantee.
-
On Line-Testing for VLSI
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 102,15
Spedizione EUR 2,22
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
-
On-Line Testing for VLSI (Frontiers in Electronic Testing)
Da: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 100,99
Spedizione EUR 3,36
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
-
Multi-Chip Module Test Strategies (Frontiers in Electronic Testing, 7)
Libro 2 di 40: Frontiers in Electronic TestingDa: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 100,99
Spedizione EUR 3,36
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
-
On Line-Testing for VLSI
Libro 33 di 40: Frontiers in Electronic TestingDa: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 100,99
Spedizione EUR 3,36
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
-
Collaboration and Technology: 21st International Conference, Criwg 2015
Libro 41 di 58: Lecture Notes in Computer ScienceLingua: Inglese
Editore: Springer-Verlag New York Inc, 2015
ISBN 10: 3319227467 ISBN 13: 9783319227467
Da: Revaluation Books, Exeter, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 76,28
Spedizione EUR 28,68
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloPaperback. Condizione: Brand New. 264 pages. 9.25x6.10x0.60 inches. In Stock.
-
Collaboration and Technology : 21st International Conference, CRIWG 2015, Yerevan, Armenia, September 22-25, 2015, Proceedings
Libro 41 di 58: Lecture Notes in Computer ScienceLingua: Inglese
Editore: Springer International Publishing, Springer International Publishing, 2015
ISBN 10: 3319227467 ISBN 13: 9783319227467
EUR 51,36
Spedizione EUR 62,03
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloTaschenbuch. Condizione: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book constitutes the refereed proceedings of the 21st International Conference on Collaboration and Technology, CRIWG 2015, held in Yerevan, Armenia, in September 2015.The 19 revised papers presented together with 1 invited talk were carefully reviewed and selected from 28 submissions. CRIWG has been focused on collaboration technology design, development, and evaluation. The background research is influenced by a number of disciplines, such as computer science, management science, informationsystems, engineering, psychology, cognitive sciences, and social sciences.
-
On-Line Testing for VLSI (Frontiers in Electronic Testing)
Da: California Books, Miami, FL, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 114,49
Spedizione gratuita
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
-
Collaboration and Technology
Libro 41 di 58: Lecture Notes in Computer ScienceLingua: Inglese
Editore: Springer International Publishing, Springer International Publishing Aug 2015, 2015
ISBN 10: 3319227467 ISBN 13: 9783319227467
Da: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Germania
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 51,36
Spedizione EUR 60,00
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloTaschenbuch. Condizione: Neu. Neuware -This book constitutes the refereed proceedings of the 21st International Conference on Collaboration and Technology, CRIWG 2015, held in Yerevan, Armenia, in September 2015.The 19 revised papers presented together with 1 invited talk were carefully reviewed and selected from 28 submissions. CRIWG has been focused on collaboration technology design, development, and evaluation. The background research is influenced by a number of disciplines, such as computer science, management science, informationsystems, engineering, psychology, cognitive sciences, and social sciences.Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg 264 pp. Englisch.
-
Collaboration and Technology: 21st International Conference, CRIWG 2015, Yerevan, Armenia, September 22-25, 2015, Proceedings (Lecture Notes in Computer Science)
Libro 41 di 58: Lecture Notes in Computer ScienceDa: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Condizione: New. pp. 247.
-
Multi-Chip Module Test Strategies (Frontiers in Electronic Testing, 7)
Libro 2 di 40: Frontiers in Electronic TestingDa: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 111,43
Spedizione EUR 13,74
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. In.
-
On-Line Testing for VLSI (Frontiers in Electronic Testing)
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 111,78
Spedizione EUR 13,74
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. In.
-
On Line-Testing for VLSI
Libro 33 di 40: Frontiers in Electronic TestingDa: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 111,80
Spedizione EUR 13,74
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. In.
-
On Line-Testing for VLSI
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 111,77
Spedizione EUR 17,21
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
-
On-Line Testing for VLSI
Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Condizione: New. pp. 164.
-
On-Line Testing for VLSI
Libro 33 di 40: Frontiers in Electronic TestingDa: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Condizione: New. pp. 168.
-
On-line Testing for VLSI
Libro 33 di 40: Frontiers in Electronic TestingLingua: Inglese
Editore: Kluwer Academic Publishers, 1998
ISBN 10: 0792381327 ISBN 13: 9780792381327
Da: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, Irlanda
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 133,43
Spedizione EUR 10,50
Spedito da Irlanda a U.S.A.Quantità: 15 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. Test functions (fault detection, diagnosis, error correction, repair, and more) that are applied concurrently while the system continues its intended function are defined as on-line testing. This book contains a selected set of articles that discuss many of the modern aspects of on-line testing. Editor(s): Nicolaidis, Michael; Zorian, Yervant; Pradhan, Dhiraj K. Series: Frontiers in Electronic Testing. Num Pages: 164 pages, biography. BIC Classification: TJFD; UY. Category: (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly; (UU) Undergraduate. Dimension: 264 x 187 x 16. Weight in Grams: 520. . 1998. Reprinted from THE JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING, Hardback. . . . .
-
Principles of Testing Electronic Systems
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 150,49
Spedizione EUR 2,22
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
