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defect recognition image processing di doneker rechenberg (4 risultati)
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Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors 1997: Proceedings of the Seventh Conference on Defect Recognition and Image Processing, ... 1997 (Institute of Physics Conference)
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 415,29
Convertire valutaEUR 10,56 per la spedizione da Regno Unito a ItaliaQuantità: Più di 20 disponibili
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-
Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors 1997
Da: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Germania
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 430,30
Convertire valutaEUR 7,95 per la spedizione da Germania a ItaliaQuantità: 3 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. pp. 548.
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Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors 1997: Proceedings of the seventh conference on Defect Recognition and Image Processing, . 1997 (Institute of Physics Conference)
Da: Chiron Media, Wallingford, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 425,15
Convertire valutaEUR 23,48 per la spedizione da Regno Unito a ItaliaQuantità: 5 disponibili
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EUR 320,81
Convertire valutaEUR 9,70 per la spedizione da Germania a ItaliaQuantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloGebunden. Condizione: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Doneker, J.Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors 1997 provides a valuable overview of current techniques used to assess, monitor, and characterize defects from the atomic scale to inhomogeneities in complete silicon wafers. This .
