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design analysis test logic di krishnaswamy smita (26 risultati)
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Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under Uncertainty.
Da: Universitätsbuchhandlung Herta Hold GmbH, Berlin, Germania
Membro dell'associazione: GIAQ ILAB VDA
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 19,00
EUR 30,00 per la spedizione da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloXI, 123 p. 71 illus. Hardcover. Versand aus Deutschland / We dispatch from Germany via Air Mail. Einband bestoßen, daher Mängelexemplar gestempelt, sonst sehr guter Zustand. Imperfect copy due to slightly bumped cover, apart from this in very good condition. Stamped. Stamped. Lecture Notes in Electrical Engineering Bd. 115. Sprache: Englisch.
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Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under Uncertainty (Lecture Notes in Electrical Engineering, 115)
Da: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 102,99
EUR 3,44 per la spedizione in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under Uncertainty (Lecture Notes in Electrical Engineering, 115)
Da: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 103,32
EUR 3,44 per la spedizione in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under Uncertainty
Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Condizione: New. pp. 136.
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Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under Uncertainty (Lecture Notes in Electrical Engineering, 115)
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 109,00
EUR 13,63 per la spedizione da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. In.
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EUR 16,20
EUR 105,00 per la spedizione da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher.
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Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under Uncertainty (Lecture Notes in Electrical Engineering, 115)
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 110,53
EUR 13,63 per la spedizione da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. In.
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Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under Uncertainty (Lecture Notes in Electrical Engineering, 115)
Da: California Books, Miami, FL, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: New.
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Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under Uncertainty (Lecture Notes in Electrical Engineering, 115)
Da: California Books, Miami, FL, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: New.
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Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under.
Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Condizione: New. pp. 136.
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Design, Analysis and Test of Logic Circuits under Uncertainty (Lecture Notes in Electrical Engineering)
Da: Revaluation Books, Exeter, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 151,31
EUR 11,38 per la spedizione da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: Brand New. 2013 edition. 134 pages. 9.25x6.25x0.50 inches. In Stock.
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Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under Uncertainty
Editore: Springer Netherlands, Springer Netherlands Sep 2012, 2012
ISBN 10: 9048196434 ISBN 13: 9789048196432
Lingua: Inglese
Da: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Germania
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 106,99
EUR 60,00 per la spedizione da Germania a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloBuch. Condizione: Neu. Neuware -Logic circuits are becoming increasingly susceptible to probabilistic behavior caused by external radiation and process variation. In addition, inherently probabilistic quantum- and nano-technologies are on the horizon as we approach the limits of CMOS scaling. Ensuring the reliability of such circuits despite the probabilistic behavior is a key challenge in IC design---one that necessitates a fundamental, probabilistic reformulation of synthesis and testing techniques. This monograph will present techniques for analyzing, designing, and testing logic circuits with probabilistic behavior.Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg 136 pp. Englisch.
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Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under Uncertainty
Editore: Springer Netherlands, Springer Netherlands, 2014
ISBN 10: 9400797982 ISBN 13: 9789400797987
Lingua: Inglese
EUR 109,94
EUR 61,10 per la spedizione da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloTaschenbuch. Condizione: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Logic circuits are becoming increasingly susceptible to probabilistic behavior caused by external radiation and process variation. In addition, inherently probabilistic quantum- and nano-technologies are on the horizon as we approach the limits of CMOS scaling. Ensuring the reliability of such circuits despite the probabilistic behavior is a key challenge in IC design---one that necessitates a fundamental, probabilistic reformulation of synthesis and testing techniques. This monograph will present techniques for analyzing, designing, and testing logic circuits with probabilistic behavior.
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Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under Uncertainty
Editore: Springer Netherlands, Springer Netherlands, 2012
ISBN 10: 9048196434 ISBN 13: 9789048196432
Lingua: Inglese
EUR 109,94
EUR 61,89 per la spedizione da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloBuch. Condizione: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Integrated circuits (ICs) increasingly exhibit uncertain characteristics due to soft errors, inherently probabilistic devices, and manufacturing variability. As device technologies scale, these effects can be detrimental to the reliability of logic circuits. To improve future semiconductor designs, this book describes methods for analyzing, designing, and testing circuits subject to probabilistic effects. The authors first develop techniques to model inherently probabilistic methods in logic circuits and to test circuits for determining their reliability after they are manufactured. Then, they study error-masking mechanisms intrinsic to digital circuits and show how to leverage them to design more reliable circuits. The book describes techniques for: Modeling and reasoning about probabilistic behavior in logic circuits, including a matrix-based reliability-analysis framework; Accurate analysis of soft-error rate (SER) based on functional-simulation, sufficiently scalable for use in gate-level optimizations; Logic synthesis for greater resilience against soft errors, which improves reliability using moderate overhead in area and performance; Test-generation and test-compaction methods aimed at probabilistic faults in logic circuits that facilitate accurate and efficient post-manufacture measurement of soft-error susceptibility.
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Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under Uncertainty (Lecture Notes in Electrical Engineering (115))
Da: Mispah books, Redhill, SURRE, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 155,89
EUR 28,45 per la spedizione da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: Like New. Like New. book.
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Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under Uncertainty (Lecture Notes in Electrical Engineering, 115)
Da: Mispah books, Redhill, SURRE, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 167,62
EUR 28,45 per la spedizione da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloPaperback. Condizione: Like New. Like New. book.
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Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under Uncertainty
Da: Majestic Books, Hounslow, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 120,25
EUR 7,40 per la spedizione da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 4 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. Print on Demand pp. 136 71 Illus.
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Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under Uncertainty
Editore: Springer Netherlands Sep 2012, 2012
ISBN 10: 9048196434 ISBN 13: 9789048196432
Lingua: Inglese
Da: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Germania
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 106,99
EUR 23,00 per la spedizione da Germania a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloBuch. Condizione: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Integrated circuits (ICs) increasingly exhibit uncertain characteristics due to soft errors, inherently probabilistic devices, and manufacturing variability. As device technologies scale, these effects can be detrimental to the reliability of logic circuits. To improve future semiconductor designs, this book describes methods for analyzing, designing, and testing circuits subject to probabilistic effects. The authors first develop techniques to model inherently probabilistic methods in logic circuits and to test circuits for determining their reliability after they are manufactured. Then, they study error-masking mechanisms intrinsic to digital circuits and show how to leverage them to design more reliable circuits. The book describes techniques for: Modeling and reasoning about probabilistic behavior in logic circuits, including a matrix-based reliability-analysis framework; Accurate analysis of soft-error rate (SER) based on functional-simulation, sufficiently scalable for use in gate-level optimizations; Logic synthesis for greater resilience against soft errors, which improves reliability using moderate overhead in area and performance; Test-generation and test-compaction methods aimed at probabilistic faults in logic circuits that facilitate accurate and efficient post-manufacture measurement of soft-error susceptibility. 136 pp. Englisch.
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Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under Uncertainty
Editore: Springer Netherlands Okt 2014, 2014
ISBN 10: 9400797982 ISBN 13: 9789400797987
Lingua: Inglese
Da: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Germania
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 106,99
EUR 23,00 per la spedizione da Germania a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloTaschenbuch. Condizione: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Logic circuits are becoming increasingly susceptible to probabilistic behavior caused by external radiation and process variation. In addition, inherently probabilistic quantum- and nano-technologies are on the horizon as we approach the limits of CMOS scaling. Ensuring the reliability of such circuits despite the probabilistic behavior is a key challenge in IC design---one that necessitates a fundamental, probabilistic reformulation of synthesis and testing techniques. This monograph will present techniques for analyzing, designing, and testing logic circuits with probabilistic behavior. 136 pp. Englisch.
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Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under Uncertainty
Da: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Germania
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 121,25
EUR 9,95 per la spedizione da Germania a U.S.A.Quantità: 4 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. PRINT ON DEMAND pp. 136.
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EUR 92,27
EUR 48,99 per la spedizione da Germania a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Presents a comprehensive overview of Logic CircuitsCombines theory with practical examplesMulti-discipline approach to the hot topic of uncertaintyLogic circuits are becoming increasingly susceptible to probabilistic behavior caus.
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EUR 92,27
EUR 48,99 per la spedizione da Germania a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloGebunden. Condizione: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Presents a comprehensive overview of Logic CircuitsCombines theory with practical examplesMulti-discipline approach to the hot topic of uncertaintyLogic circuits are becoming increasingly susceptible to probabilistic behavior caus.
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Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under.
Da: Majestic Books, Hounslow, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 157,56
EUR 7,40 per la spedizione da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 4 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. Print on Demand pp. 136.
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EUR 96,40
EUR 70,00 per la spedizione da Germania a U.S.A.Quantità: 5 disponibili
Aggiungi al carrelloBuch. Condizione: Neu. Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under Uncertainty | Smita Krishnaswamy (u. a.) | Buch | xii | Englisch | 2012 | Springer | EAN 9789048196432 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu Print on Demand.
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Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under Uncertainty
Editore: Springer Netherlands, Springer Netherlands Okt 2014, 2014
ISBN 10: 9400797982 ISBN 13: 9789400797987
Lingua: Inglese
Da: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Germania
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 106,99
EUR 60,00 per la spedizione da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloTaschenbuch. Condizione: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -Logic circuits are becoming increasingly susceptible to probabilistic behavior caused by external radiation and process variation. In addition, inherently probabilistic quantum- and nano-technologies are on the horizon as we approach the limits of CMOS scaling. Ensuring the reliability of such circuits despite the probabilistic behavior is a key challenge in IC design---one that necessitates a fundamental, probabilistic reformulation of synthesis and testing techniques. This monograph will present techniques for analyzing, designing, and testing logic circuits with probabilistic behavior.Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg 136 pp. Englisch.
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Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under.
Da: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Germania
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 160,25
EUR 9,95 per la spedizione da Germania a U.S.A.Quantità: 4 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. PRINT ON DEMAND pp. 136.
