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functional design errors digital di chang kai hui (25 risultati)
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Functional Design Errors in Digital Circuits: Diagnosis Correction and Repair (Lecture Notes in Electrical Engineering, 32)
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
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Functional Design Errors in Digital Circuits: Diagnosis Correction and Repair (Lecture Notes in Electrical Engineering, 32)
Da: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, U.S.A.
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Functional Design Errors in Digital Circuits : Diagnosis Correction and Repair
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
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Functional Design Errors in Digital Circuits: Diagnosis Correction and Repair (Lecture Notes in Electrical Engineering, 32)
Da: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, U.S.A.
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Functional Design Errors in Digital Circuits: Diagnosis Correction and Repair (Lecture Notes in Electrical Engineering, 32)
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
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Functional Design Errors in Digital Circuits : Diagnosis Correction and Repair
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
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Functional Design Errors in Digital Circuits: Diagnosis Correction and Repair (Lecture Notes in Electrical Engineering, 32)
Da: California Books, Miami, FL, U.S.A.
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Functional Design Errors in Digital Circuits
Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
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Condizione: New. pp. 226.
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Functional Design Errors in Digital Circuits: Diagnosis Correction and Repair (Lecture Notes in Electrical Engineering, 32)
Da: California Books, Miami, FL, U.S.A.
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EUR 141,90
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Aggiungi al carrelloTaschenbuch. Condizione: Neu. Functional Design Errors in Digital Circuits | Diagnosis Correction and Repair | Kai-Hui Chang (u. a.) | Taschenbuch | xxiv | Englisch | 2010 | Springer Netherland | EAN 9789048181124 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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Functional Design Errors in Digital Circuits : Diagnosis Correction and Repair
Editore: Springer Netherlands, Springer Netherlands, 2010
ISBN 10: 9048181127 ISBN 13: 9789048181124
Lingua: Inglese
EUR 162,91
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Aggiungi al carrelloTaschenbuch. Condizione: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Functional Design Errors in Digital Circuits Diagnosis covers a wide spectrum of innovative methods to automate the debugging process throughout the design flow: from Register-Transfer Level (RTL) all the way to the silicon die. In particular, this book describes: (1) techniques for bug trace minimization that simplify debugging; (2) an RTL error diagnosis method that identifies the root cause of errors directly; (3) a counterexample-guided error-repair framework to automatically fix errors in gate-level and RTL designs; (4) a symmetry-based rewiring technology for fixing electrical errors; (5) an incremental verification system for physical synthesis; and (6) an integrated framework for post-silicon debugging and layout repair. The solutions provided in this book can greatly reduce debugging effort, enhance design quality, and ultimately enable the design and manufacture of more reliable electronic devices.
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EUR 166,62
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Aggiungi al carrelloBuch. Condizione: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Functional Design Errors in Digital Circuits Diagnosis covers a wide spectrum of innovative methods to automate the debugging process throughout the design flow: from Register-Transfer Level (RTL) all the way to the silicon die. In particular, this book describes: (1) techniques for bug trace minimization that simplify debugging; (2) an RTL error diagnosis method that identifies the root cause of errors directly; (3) a counterexample-guided error-repair framework to automatically fix errors in gate-level and RTL designs; (4) a symmetry-based rewiring technology for fixing electrical errors; (5) an incremental verification system for physical synthesis; and (6) an integrated framework for post-silicon debugging and layout repair. The solutions provided in this book can greatly reduce debugging effort, enhance design quality, and ultimately enable the design and manufacture of more reliable electronic devices.
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Functional Design Errors in Digital Circuits : Diagnosis Correction and Repair
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 226,32
EUR 17,17 shipping
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Aggiungi al carrelloCondizione: As New. Unread book in perfect condition.
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Functional Design Errors in Digital Circuits: Diagnosis Correction and Repair (Lecture Notes in Electrical Engineering)
Da: Mispah books, Redhill, SURRE, Regno Unito
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Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: Like New. Like New. book.
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Functional Design Errors in Digital Circuits : Diagnosis Correction and Repair
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: As New. Unread book in perfect condition.
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Functional Design Errors in Digital Circuits: Diagnosis Correction and Repair (Lecture Notes in Electrical Engineering (32))
Da: Mispah books, Redhill, SURRE, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 244,01
EUR 28,61 shipping
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Aggiungi al carrelloPaperback. Condizione: Like New. Like New. book.
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Functional Design Errors in Digital Circuits
Editore: Springer Netherlands Okt 2010, 2010
ISBN 10: 9048181127 ISBN 13: 9789048181124
Lingua: Inglese
Da: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Germania
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 149,79
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Aggiungi al carrelloTaschenbuch. Condizione: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Functional Design Errors in Digital Circuits Diagnosis covers a wide spectrum of innovative methods to automate the debugging process throughout the design flow: from Register-Transfer Level (RTL) all the way to the silicon die. In particular, this book describes: (1) techniques for bug trace minimization that simplify debugging; (2) an RTL error diagnosis method that identifies the root cause of errors directly; (3) a counterexample-guided error-repair framework to automatically fix errors in gate-level and RTL designs; (4) a symmetry-based rewiring technology for fixing electrical errors; (5) an incremental verification system for physical synthesis; and (6) an integrated framework for post-silicon debugging and layout repair. The solutions provided in this book can greatly reduce debugging effort, enhance design quality, and ultimately enable the design and manufacture of more reliable electronic devices. 224 pp. Englisch.
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Functional Design Errors in Digital Circuits: Diagnosis Correction and Repair
Da: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Germania
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 160,49
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Aggiungi al carrelloBuch. Condizione: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Functional Design Errors in Digital Circuits Diagnosis covers a wide spectrum of innovative methods to automate the debugging process throughout the design flow: from Register-Transfer Level (RTL) all the way to the silicon die. In particular, this book describes: (1) techniques for bug trace minimization that simplify debugging; (2) an RTL error diagnosis method that identifies the root cause of errors directly; (3) a counterexample-guided error-repair framework to automatically fix errors in gate-level and RTL designs; (4) a symmetry-based rewiring technology for fixing electrical errors; (5) an incremental verification system for physical synthesis; and (6) an integrated framework for post-silicon debugging and layout repair. The solutions provided in this book can greatly reduce debugging effort, enhance design quality, and ultimately enable the design and manufacture of more reliable electronic devices. 200 pp. Englisch.
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EUR 136,16
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Aggiungi al carrelloCondizione: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Coverage of novel techniques to automate IC debugging, a subject rarely covered in other booksComprehensive scope and solutions: from RTL to post-silicon debuggingThe innovative techniques covered in this book are recent and have been featu.
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EUR 137,26
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Aggiungi al carrelloGebunden. Condizione: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Coverage of novel techniques to automate IC debugging, a subject rarely covered in other booksComprehensive scope and solutions: from RTL to post-silicon debuggingThe innovative techniques covered in this book are recent and have been featu.
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Functional Design Errors in Digital Circuits
Da: Majestic Books, Hounslow, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
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Aggiungi al carrelloCondizione: New. Print on Demand pp. 226 49:B&W 6.14 x 9.21 in or 234 x 156 mm (Royal 8vo) Perfect Bound on White w/Gloss Lam.
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Functional Design Errors in Digital Circuits
Da: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Germania
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EUR 204,01
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Functional Design Errors in Digital Circuits
Editore: Springer Netherlands, Springer Netherlands Okt 2010, 2010
ISBN 10: 9048181127 ISBN 13: 9789048181124
Lingua: Inglese
Da: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Germania
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Aggiungi al carrelloTaschenbuch. Condizione: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -Functional Design Errors in Digital Circuits Diagnosis covers a wide spectrum of innovative methods to automate the debugging process throughout the design flow: from Register-Transfer Level (RTL) all the way to the silicon die. In particular, this book describes: (1) techniques for bug trace minimization that simplify debugging; (2) an RTL error diagnosis method that identifies the root cause of errors directly; (3) a counterexample-guided error-repair framework to automatically fix errors in gate-level and RTL designs; (4) a symmetry-based rewiring technology for fixing electrical errors; (5) an incremental verification system for physical synthesis; and (6) an integrated framework for post-silicon debugging and layout repair. The solutions provided in this book can greatly reduce debugging effort, enhance design quality, and ultimately enable the design and manufacture of more reliable electronic devices.Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg 224 pp. Englisch.
