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logic memory experiments using di larsen david (7 risultati)
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Logic and Memory Experiments: Using Ttl Intergrated Circuits
Da: Once Upon A Time Books, Siloam Springs, AR, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Paperback. Condizione: Acceptable. This is a used book. It may contain highlighting/underlining and/or the book may show heavier signs of wear . It may also be ex-library or without dustjacket. This is a used book. It may contain highlighting/underlining and/or the book may show heavier signs of wear . It may also be ex-library or without dustjacket.
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Logic & memory experiments using TTL integrated circuits (Blacksburg continuing education series)
Da: Jenson Books Inc, Logan, UT, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
paperback. Condizione: Good. The item is in good condition and works perfectly, however it is showing some signs of previous ownership which could include: small tears, scuffing, notes, highlighting, gift inscriptions, and library markings.
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Logic & memory experiments using TTL integrated circuits (Blacksburg continuing education series)
Da: Wonder Book, Frederick, MD, U.S.A.
Membro dell'associazione: ABAA ILAB
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: Good. Good condition. A copy that has been read but remains intact. May contain markings such as bookplates, stamps, limited notes and highlighting, or a few light stains.
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The Bugbook I: Logic & Memory Experiments Using TTL Integrated Circuits
Da: Grey Matter Books, Hadley, MA, U.S.A.
Membro dell'associazione: SNEAB
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Paperback. Condizione: Very Good. Volume I ONLY. Eighth printing. Text and diagrams are unmarked; pages are bright, though the page edges are age toned. The binding leans and the spine is creased. Covers are shelf rubbed and show some wear around the edges.
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Logic & memory experiments using TTL integrated circuits (Blacksburg continuing education series)
Editore: H. W. Sams
ISBN 10: 0897040007 ISBN 13: 9780897040006
Da: ThriftBooks-Atlanta, AUSTELL, GA, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Paperback. Condizione: Good. No Jacket. Pages can have notes/highlighting. Spine may show signs of wear. ~ ThriftBooks: Read More, Spend Less.
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Paperback. Condizione: new. Excellent Condition.Excels in customer satisfaction, prompt replies, and quality checks.
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The BUGBOOK 1. Logic & Memory Experiments. Using TTL Itegrated Circuits.
Lingua: Tedesco
Editore: E&L Instruments INC:, 1974
Da: NEPO UG, Rüsselsheim am Main, Germania
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
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Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloSoftcover/Paperback. Condizione: Gut. Sofort verfügbar Versand am folgenden Arbeitstag mit Rechnung daily shipping wordwide with invoice ex library aus Bibliothek Sprache: Deutsch Gewicht in Gramm: 550.
