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nanometer scale defect detection using di dahoo pierre (21 risultati)
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Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 122,94
Convertire valutaEUR 2,25 per la spedizione in U.S.A.Quantità: 8 disponibili
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NANOMETER-SCALE DEFECT DETECTION USING POLARIZED LIGHT
Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 121,76
Convertire valutaEUR 3,40 per la spedizione in U.S.A.Quantità: 4 disponibili
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NANOMETER-SCALE DEFECT DETECTION USING POLARIZED LIGHT
Da: Majestic Books, Hounslow, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 126,03
Convertire valutaEUR 7,52 per la spedizione da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 4 disponibili
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NANOMETER-SCALE DEFECT DETECTION USING POLARIZED LIGHT
Da: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Germania
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 130,02
Convertire valutaEUR 9,95 per la spedizione da Germania a U.S.A.Quantità: 4 disponibili
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EUR 137,94
Convertire valutaEUR 7,65 per la spedizione in U.S.A.Quantità: 2 disponibili
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Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 147,30
Convertire valutaEUR 2,25 per la spedizione in U.S.A.Quantità: 8 disponibili
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Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light (Mechanical Engineering and Solid Mechanics: Reliability of Multiphysical Systems, 2)
Da: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 146,37
Convertire valutaEUR 3,40 per la spedizione in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 133,30
Convertire valutaEUR 17,35 per la spedizione da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 8 disponibili
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Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 153,84
Convertire valutaEUR 17,35 per la spedizione da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 8 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: As New. Unread book in perfect condition.
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Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light (Mechanical Engineering and Solid Mechanics: Reliability of Multiphysical Systems, 2)
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 170,51
Convertire valutaEUR 13,86 per la spedizione da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
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Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light (Mechanical Engineering and Solid Mechanics: Reliability of Multiphysical Systems)
Da: Chiron Media, Wallingford, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 167,06
Convertire valutaEUR 17,92 per la spedizione da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: New.
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Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light
Editore: ISTE Ltd and John Wiley & Sons Inc, 2016
ISBN 10: 1848219369 ISBN 13: 9781848219366
Lingua: Inglese
Da: THE SAINT BOOKSTORE, Southport, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 175,22
Convertire valutaEUR 14,96 per la spedizione da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloHardback. Condizione: New. New copy - Usually dispatched within 4 working days. 618.
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EUR 188,43
Convertire valutaEUR 2,56 per la spedizione in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. Brand new! Please provide a physical shipping address.
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Nanometer-Scale Defect Detection Using Polarized Light
Editore: ISTE Ltd and John Wiley & Sons Inc, 2016
ISBN 10: 1848219369 ISBN 13: 9781848219366
Lingua: Inglese
Da: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, Irlanda
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Prima edizione
EUR 181,19
Convertire valutaEUR 10,50 per la spedizione da Irlanda a U.S.A.Quantità: 15 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. This book describes the methods used to detect material defects at the nanoscale. The authors present different theories, polarization states and interactions of light with matter, in particular optical techniques using polarized light. Num Pages: 316 pages, black & white illustrations. BIC Classification: TBN; TGMT; TTB. Category: (P) Professional & Vocational. Dimension: 242 x 164 x 22. Weight in Grams: 622. . 2016. 1st Edition. Hardcover. . . . .
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Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light
Editore: ISTE Ltd and John Wiley and Sons Inc, GB, 2016
ISBN 10: 1848219369 ISBN 13: 9781848219366
Lingua: Inglese
Da: Rarewaves.com USA, London, LONDO, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 208,79
Convertire valutaGratis per la spedizione da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloHardback. Condizione: New. This book describes the methods used to detect material defects at the nanoscale. The authors present different theories, polarization states and interactions of light with matter, in particular optical techniques using polarized light. Combining experimental techniques of polarized light analysis with techniques based on theoretical or statistical models to study faults or buried interfaces of mechatronic systems, the authors define the range of validity of measurements of carbon nanotube properties. The combination of theory and pratical methods presented throughout this book provide the reader with an insight into the current understanding of physicochemical processes affecting the properties of materials at the nanoscale.
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EUR 166,43
Convertire valutaEUR 48,99 per la spedizione da Germania a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. This book describes the methods used to detect material defects at the nanoscale. The authors present different theories, polarization states and interactions of light with matter, in particular optical techniques using polarized light.Klappentext.
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Nanometer-Scale Defect Detection Using Polarized Light
Editore: ISTE Ltd and John Wiley & Sons Inc, 2016
ISBN 10: 1848219369 ISBN 13: 9781848219366
Lingua: Inglese
Da: Kennys Bookstore, Olney, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 226,17
Convertire valutaEUR 8,95 per la spedizione in U.S.A.Quantità: 15 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. This book describes the methods used to detect material defects at the nanoscale. The authors present different theories, polarization states and interactions of light with matter, in particular optical techniques using polarized light. Num Pages: 316 pages, black & white illustrations. BIC Classification: TBN; TGMT; TTB. Category: (P) Professional & Vocational. Dimension: 242 x 164 x 22. Weight in Grams: 622. . 2016. 1st Edition. Hardcover. . . . . Books ship from the US and Ireland.
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Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light
Da: Revaluation Books, Exeter, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 217,34
Convertire valutaEUR 28,92 per la spedizione da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: Brand New. 200 pages. 10.00x6.50x1.00 inches. In Stock.
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Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light
Editore: ISTE Ltd and John Wiley and Sons Inc, GB, 2016
ISBN 10: 1848219369 ISBN 13: 9781848219366
Lingua: Inglese
Da: Rarewaves.com UK, London, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 196,06
Convertire valutaEUR 75,20 per la spedizione da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloHardback. Condizione: New. This book describes the methods used to detect material defects at the nanoscale. The authors present different theories, polarization states and interactions of light with matter, in particular optical techniques using polarized light. Combining experimental techniques of polarized light analysis with techniques based on theoretical or statistical models to study faults or buried interfaces of mechatronic systems, the authors define the range of validity of measurements of carbon nanotube properties. The combination of theory and pratical methods presented throughout this book provide the reader with an insight into the current understanding of physicochemical processes affecting the properties of materials at the nanoscale.
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EUR 231,75
Convertire valutaEUR 63,21 per la spedizione da Germania a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloBuch. Condizione: Neu. Neuware - This book describes the methods used to detect material defects at the nanoscale. The authors present different theories, polarization states and interactions of light with matter, in particular optical techniques using polarized light.
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Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light
Da: Revaluation Books, Exeter, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 207,90
Convertire valutaEUR 28,92 per la spedizione da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: Brand New. 200 pages. 10.00x6.50x1.00 inches. In Stock. This item is printed on demand.
