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protocol test systems 7th (11 risultati)
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Protocol Test Systems: 7th workshop 7th IFIP WG 6.1 international workshop on protocol text systems
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 53,79
Convertire valutaEUR 13,71 per la spedizione da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. In.
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Protocol Test Systems : 7th Workshop 7th Ifip Wg 6.1 International Workshop on Protocol Text Systems
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 158,29
Convertire valutaEUR 2,26 per la spedizione in U.S.A.Quantità: 15 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Protocol Test Systems: 7th workshop 7th IFIP WG 6.1 international workshop on protocol text systems (IFIP Advances in Information and Communication Technology)
Da: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 157,11
Convertire valutaEUR 3,41 per la spedizione in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Protocol Test Systems: 7th workshop 7th IFIP WG 6.1 international workshop on protocol text systems (IFIP Advances in Information and Communication Technology)
Da: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 157,51
Convertire valutaEUR 3,41 per la spedizione in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Protocol Test Systems: 7th workshop 7th IFIP WG 6.1 international workshop on protocol text systems (IFIP Advances in Information and Communication Technology)
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 158,15
Convertire valutaEUR 13,71 per la spedizione da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. In.
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Protocol Test Systems: 7th workshop 7th IFIP WG 6.1 international workshop on protocol text systems (IFIP Advances in Information and Communication Technology)
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 158,15
Convertire valutaEUR 13,71 per la spedizione da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. In.
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Protocol Test Systems : 7th Workshop 7th Ifip Wg 6.1 International Workshop on Protocol Text Systems
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 184,33
Convertire valutaEUR 2,26 per la spedizione in U.S.A.Quantità: 15 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: As New. Unread book in perfect condition.
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Protocol Test Systems: 7th workshop 7th IFIP WG 6.1 international workshop on protocol text systems (IFIP Advances in Information and Communication Technology)
Da: Mispah books, Redhill, SURRE, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 200,45
Convertire valutaEUR 28,62 per la spedizione da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: Like New. Like New. book.
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Protocol Test Systems : 7th workshop 7th IFIP WG 6.1 international workshop on protocol text systems
EUR 164,49
Convertire valutaEUR 62,73 per la spedizione da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloTaschenbuch. Condizione: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This is the Proceedings of the 7th IFIP WG6.1 International Workshop on Protocol Test Systems (IWPTS'94) which was held in Tokyo, Japan on November 8-10, 1994. After having been organized in Vancouver (Canada, 1988), Berlin (Germany, 1989), McLean (USA, 1990), Leidschendam (The Netherlands, 1991), Montreal (Canada, 1992) and Pau (France, 1993), this is the 7th international workshop. The aim of the workshop is to be a meeting point between research and industry and between theory and practice of the testing of data communication systems. The workshop consists of the presentations of reviewed and invited papers, tool demonstrations and panel sessions. All submitted papers have been reviewed by the members of the Program Committee and the following additional reviewers including: L. Andrey, N. Arakawa, D. Becam, L. Boullier, R. Dssouli, B. Forghani, M. Higuchi, L. Heerink, G. Huecas, M. Hunter, S. lisaku, Y. Kakuda, K. Kazama, L-S. Koh , R. Langerak, D. Lee, G. Leon, G. Luo, P. Maigron, M. Mori, A. Nakamura, S. Nightingale, K. Okada, K. Okano, N. Okazaki, A. Petrenko, M. Phalippou, A. Rennoch, F. Sato, Y. Sugito, D. Tang, D. Toggweiler, F. Vallo and J. Zhu. The Program Committee has selected excellent papers among them. This proceedings includes two invited papers, fifteen regular papers, six short papers, two panel reports and one panel paper which were presented in the workshop.
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EUR 178,35
Convertire valutaEUR 48,99 per la spedizione da Germania a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloGebunden. Condizione: New. Part One. Open issues in conformance test specification. OSI protocol testing system based on user friendly test scenario specification functions. TTCN test case correctness validation. Invited Address 1. Fault coverage of tests based on finite state .
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Protocol Test Systems : 7th Workshop 7th Ifip Wg 6.1 International Workshop on Protocol Text Systems
EUR 247,94
Convertire valutaEUR 63,40 per la spedizione da Germania a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloBuch. Condizione: Neu. Neuware - This is the Proceedings of the 7th IFIP WG6.1 International Workshop on Protocol Test Systems (IWPTS'94) which was held in Tokyo, Japan on November 8-10, 1994. After having been organized in Vancouver (Canada, 1988), Berlin (Germany, 1989), McLean (USA, 1990), Leidschendam (The Netherlands, 1991), Montreal (Canada, 1992) and Pau (France, 1993), this is the 7th international workshop. The aim of the workshop is to be a meeting point between research and industry and between theory and practice of the testing of data communication systems. The workshop consists of the presentations of reviewed and invited papers, tool demonstrations and panel sessions. All submitted papers have been reviewed by the members of the Program Committee and the following additional reviewers including: L. Andrey, N. Arakawa, D. Becam, L. Boullier, R. Dssouli, B. Forghani, M. Higuchi, L. Heerink, G. Huecas, M. Hunter, S. lisaku, Y. Kakuda, K. Kazama, L-S. Koh , R. Langerak, D. Lee, G. Leon, G. Luo, P. Maigron, M. Mori, A. Nakamura, S. Nightingale, K. Okada, K. Okano, N. Okazaki, A. Petrenko, M. Phalippou, A. Rennoch, F. Sato, Y. Sugito, D. Tang, D. Toggweiler, F. Vallo and J. Zhu. The Program Committee has selected excellent papers among them. This proceedings includes two invited papers, fifteen regular papers, six short papers, two panel reports and one panel paper which were presented in the workshop.
