ISBN 10: 1402021682 / ISBN 13: 9781402021688
Usato / Quantità: 0
Copie del libro da altre librerie
Mostra tutte le  copie di questo libro

Libro

Purtroppo questa copia non è più disponibile. Di seguito ti proponiamo una lista di copie simili.

Descrizione:

Brand New, Unread Copy in Perfect Condition. A+ Customer Service! Summary: "A discussion of recently developed experimental methods for noise research in nanoscale electronic devices, conducted by specialists in transport and stochastic phenomena in nanoscale physics. The approach described is to create methods for experimental observations of noise sources, their localization and their frequency spectrum, voltage-current and thermal dependences. Our current knowledge of measurement methods for mesoscopic devices is summarized to identify directions for future research, related to downscaling effects.". Codice inventario libreria

Su questo libro:

Book ratings provided by GoodReads):
0 valutazione media
(0 valutazioni)

Riassunto:

A discussion of recently developed experimental methods for noise research in nanoscale electronic devices, conducted by specialists in transport and stochastic phenomena in nanoscale physics. The approach described is to create methods for experimental observations of noise sources, their localization and their frequency spectrum, voltage-current and thermal dependences. Our current knowledge of measurement methods for mesoscopic devices is summarized to identify directions for future research, related to downscaling effects.

The directions for future research into fluctuation phenomena in quantum dot and quantum wire devices are specified. Nanoscale electronic devices will be the basic components for electronics of the 21st century. From this point of view the signal-to-noise ratio is a very important parameter for the device application. Since the noise is also a quality and reliability indicator, experimental methods will have a wide application in the future.

Le informazioni nella sezione "Su questo libro" possono far riferimento a edizioni diverse di questo titolo.

Dati bibliografici

Condizione libro: New

I migliori risultati di ricerca su AbeBooks

1.

Editore: Springer (2017)
ISBN 10: 1402021682 ISBN 13: 9781402021688
Usato Rilegato Quantità: 3
Print on Demand
Da
Murray Media
(North Miami Beach, FL, U.S.A.)
Valutazione libreria
[?]

Descrizione libro Springer, 2017. Hardcover. Condizione libro: Very Good. This item is printed on demand. Codice libro della libreria P021402021682

Maggiori informazioni su questa libreria | Fare una domanda alla libreria

Compra usato
EUR 229,22
Convertire valuta

Aggiungere al carrello

Spese di spedizione: EUR 2,77
In U.S.A.
Destinazione, tempi e costi

2.

Editore: Springer (2017)
ISBN 10: 1402021682 ISBN 13: 9781402021688
Nuovi Rilegato Quantità: 3
Print on Demand
Da
Murray Media
(North Miami Beach, FL, U.S.A.)
Valutazione libreria
[?]

Descrizione libro Springer, 2017. Hardcover. Condizione libro: New. This item is printed on demand. Codice libro della libreria P111402021682

Maggiori informazioni su questa libreria | Fare una domanda alla libreria

Compra nuovo
EUR 252,67
Convertire valuta

Aggiungere al carrello

Spese di spedizione: EUR 2,77
In U.S.A.
Destinazione, tempi e costi

3.

Editore: Springer-Verlag New York Inc., United States (2004)
ISBN 10: 1402021682 ISBN 13: 9781402021688
Nuovi Rilegato Quantità: 1
Da
The Book Depository
(London, Regno Unito)
Valutazione libreria
[?]

Descrizione libro Springer-Verlag New York Inc., United States, 2004. Hardback. Condizione libro: New. 2004 ed.. 241 x 160 mm. Language: English . Brand New Book. A discussion of recently developed experimental methods for noise research in nanoscale electronic devices, conducted by specialists in transport and stochastic phenomena in nanoscale physics. The approach described is to create methods for experimental observations of noise sources, their localization and their frequency spectrum, voltage-current and thermal dependences. Our current knowledge of measurement methods for mesoscopic devices is summarized to identify directions for future research, related to downscaling effects. The directions for future research into fluctuation phenomena in quantum dot and quantum wire devices are specified. Nanoscale electronic devices will be the basic components for electronics of the 21st century. From this point of view the signal-to-noise ratio is a very important parameter for the device application. Since the noise is also a quality and reliability indicator, experimental methods will have a wide application in the future. Codice libro della libreria LIB9781402021688

Maggiori informazioni su questa libreria | Fare una domanda alla libreria

Compra nuovo
EUR 288,23
Convertire valuta

Aggiungere al carrello

Spese di spedizione: GRATIS
Da: Regno Unito a: U.S.A.
Destinazione, tempi e costi

4.

Editore: Springer-Verlag New York Inc., United States (2004)
ISBN 10: 1402021682 ISBN 13: 9781402021688
Nuovi Rilegato Quantità: 1
Da
The Book Depository US
(London, Regno Unito)
Valutazione libreria
[?]

Descrizione libro Springer-Verlag New York Inc., United States, 2004. Hardback. Condizione libro: New. 2004 ed.. 241 x 160 mm. Language: English . Brand New Book. A discussion of recently developed experimental methods for noise research in nanoscale electronic devices, conducted by specialists in transport and stochastic phenomena in nanoscale physics. The approach described is to create methods for experimental observations of noise sources, their localization and their frequency spectrum, voltage-current and thermal dependences. Our current knowledge of measurement methods for mesoscopic devices is summarized to identify directions for future research, related to downscaling effects. The directions for future research into fluctuation phenomena in quantum dot and quantum wire devices are specified. Nanoscale electronic devices will be the basic components for electronics of the 21st century. From this point of view the signal-to-noise ratio is a very important parameter for the device application. Since the noise is also a quality and reliability indicator, experimental methods will have a wide application in the future. Codice libro della libreria LIB9781402021688

Maggiori informazioni su questa libreria | Fare una domanda alla libreria

Compra nuovo
EUR 289,05
Convertire valuta

Aggiungere al carrello

Spese di spedizione: GRATIS
Da: Regno Unito a: U.S.A.
Destinazione, tempi e costi

5.

Josef Sikula
Editore: Springer-Verlag New York Inc. (2004)
ISBN 10: 1402021682 ISBN 13: 9781402021688
Nuovi Quantità: > 20
Print on Demand
Da
Books2Anywhere
(Fairford, GLOS, Regno Unito)
Valutazione libreria
[?]

Descrizione libro Springer-Verlag New York Inc., 2004. HRD. Condizione libro: New. New Book. Delivered from our US warehouse in 10 to 14 business days. THIS BOOK IS PRINTED ON DEMAND. Established seller since 2000. Codice libro della libreria I1-9781402021688

Maggiori informazioni su questa libreria | Fare una domanda alla libreria

Compra nuovo
EUR 325,34
Convertire valuta

Aggiungere al carrello

Spese di spedizione: EUR 10,40
Da: Regno Unito a: U.S.A.
Destinazione, tempi e costi

6.

JOSEF SIKULA
Editore: Springer (2004)
ISBN 10: 1402021682 ISBN 13: 9781402021688
Nuovi Rilegato Quantità: 1
Da
Herb Tandree Philosophy Books
(Stroud, GLOS, Regno Unito)
Valutazione libreria
[?]

Descrizione libro Springer, 2004. Hardback. Condizione libro: NEW. 9781402021688 This listing is a new book, a title currently in-print which we order directly and immediately from the publisher. Codice libro della libreria HTANDREE0289338

Maggiori informazioni su questa libreria | Fare una domanda alla libreria

Compra nuovo
EUR 330,43
Convertire valuta

Aggiungere al carrello

Spese di spedizione: EUR 9,24
Da: Regno Unito a: U.S.A.
Destinazione, tempi e costi

7.

Sikula, Josef (EDT)/ Levinshtein, Michael E. (EDT)
Editore: Springer-Verlag New York Inc. 2004-07-08, New York, NY (2004)
ISBN 10: 1402021682 ISBN 13: 9781402021688
Nuovi Rilegato Quantità: > 20
Da
Blackwell's
(Oxford, OX, Regno Unito)
Valutazione libreria
[?]

Descrizione libro Springer-Verlag New York Inc. 2004-07-08, New York, NY, 2004. hardback. Condizione libro: New. Codice libro della libreria 9781402021688

Maggiori informazioni su questa libreria | Fare una domanda alla libreria

Compra nuovo
EUR 334,53
Convertire valuta

Aggiungere al carrello

Spese di spedizione: EUR 5,20
Da: Regno Unito a: U.S.A.
Destinazione, tempi e costi

8.

Josef Sikula
Editore: Springer-Verlag New York Inc. (2004)
ISBN 10: 1402021682 ISBN 13: 9781402021688
Nuovi Quantità: > 20
Print on Demand
Da
PBShop
(Wood Dale, IL, U.S.A.)
Valutazione libreria
[?]

Descrizione libro Springer-Verlag New York Inc., 2004. HRD. Condizione libro: New. New Book. Shipped from US within 10 to 14 business days. THIS BOOK IS PRINTED ON DEMAND. Established seller since 2000. Codice libro della libreria I1-9781402021688

Maggiori informazioni su questa libreria | Fare una domanda alla libreria

Compra nuovo
EUR 334,01
Convertire valuta

Aggiungere al carrello

Spese di spedizione: EUR 3,69
In U.S.A.
Destinazione, tempi e costi

9.

Sikula, Josef
Editore: Springer (2016)
ISBN 10: 1402021682 ISBN 13: 9781402021688
Nuovi Paperback Quantità: 1
Print on Demand
Da
Ria Christie Collections
(Uxbridge, Regno Unito)
Valutazione libreria
[?]

Descrizione libro Springer, 2016. Paperback. Condizione libro: New. PRINT ON DEMAND Book; New; Publication Year 2016; Not Signed; Fast Shipping from the UK. No. book. Codice libro della libreria ria9781402021688_lsuk

Maggiori informazioni su questa libreria | Fare una domanda alla libreria

Compra nuovo
EUR 336,44
Convertire valuta

Aggiungere al carrello

Spese di spedizione: EUR 3,86
Da: Regno Unito a: U.S.A.
Destinazione, tempi e costi

10.

Josef Sikula
Editore: Springer-Verlag Gmbh Jul 2004 (2004)
ISBN 10: 1402021682 ISBN 13: 9781402021688
Nuovi Quantità: 1
Valutazione libreria
[?]

Descrizione libro Springer-Verlag Gmbh Jul 2004, 2004. Buch. Condizione libro: Neu. 243x165x29 mm. Neuware - A discussion of recently developed experimental methods for noise research in nanoscale electronic devices, conducted by specialists in transport and stochastic phenomena in nanoscale physics. The approach described is to create methods for experimental observations of noise sources, their localization and their frequency spectrum, voltage-current and thermal dependences. Our current knowledge of measurement methods for mesoscopic devices is summarized to identify directions for future research, related to downscaling effects. The directions for future research into fluctuation phenomena in quantum dot and quantum wire devices are specified. Nanoscale electronic devices will be the basic components for electronics of the 21st century. From this point of view the signal-to-noise ratio is a very important parameter for the device application. Since the noise is also a quality and reliability indicator, experimental methods will have a wide application in the future. 368 pp. Englisch. Codice libro della libreria 9781402021688

Maggiori informazioni su questa libreria | Fare una domanda alla libreria

Compra nuovo
EUR 362,73
Convertire valuta

Aggiungere al carrello

Spese di spedizione: EUR 12,00
Da: Germania a: U.S.A.
Destinazione, tempi e costi

Vedi altre 10 copie di questo libro

Vedi tutti i risultati per questo libro