3D Integration of Resistive Switching Memory
Lingua: inglese
Editore: CRC Press Dez 2024, 2024
- Brossura
- Nuovo
Da: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, GermaniaBuchWeltWeit Ludwig Meier e.K.
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This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This book offers a thorough exploration of the three-dimensional integration of resistive memory in all aspects, from the materials, devices, array-level issues, and integration structures to its applications. Resistive random-access memory (RRAM) is one of the most promising candidates for next-generation nonvolatile memory applications owing to its superior characteristics including simple structure, high switching speed, low power consumption, and compatibility with standard complementary metal oxide semiconductor (CMOS) process. To achieve large-scale, high-density integration of RRAM, the 3D cross array is undoubtedly the ideal choice. This book introduces the 3D integration technology of RRAM, and breaks it down into five parts:1: Associative Problems in Crossbar array and 3D architectures;2: Selector Devices and Self-Selective Cells; 3: Integration of 3D RRAM; 4: Reliability Issues in 3D RRAM; 5: Applications of 3D RRAM beyond Storage.The book aspires to provide a relevant reference for students, researchers, engineers, and professionals working with resistive random-access memory or those interested in 3D integration technology in general. 106 pp. Englisch.…
Codice articolo 9781032489506
- Titolo
- 3D Integration of Resistive Switching Memory
- Autore
- Qing Luo
- Editore
- CRC Press Dez 2024
- Anno di pubblicazione
- 2024
- Condizione
- Neu
- Rilegatura
- Taschenbuch
- Lingua
- inglese
- ISBN 10
- 1032489502
- ISBN 13
- 9781032489506
- Peso dell'articolo
- 145 grammi
- Dimensioni
- 216x140x6 mm
This book offers a thorough exploration of the three-dimensional integration of resistive memory in all aspects, from the materials, devices, array-level issues, and integration structures to its applications.
Resistive random-access memory (RRAM) is one of the most promising candidates for next-generation nonvolatile memory applications owing to its superior characteristics including simple structure, high switching speed, low power consumption, and compatibility with standard complementary metal oxide semiconductor (CMOS) process. To achieve large-scale, high-density integration of RRAM, the 3D cross array is undoubtedly the ideal choice. This book introduces the 3D integration technology of RRAM, and breaks it down into five parts:
1: Associative Problems in Crossbar array and 3D architectures;
2: Selector Devices and Self-Selective Cells;
3: Integration of 3D RRAM;
4: Reliability Issues in 3D RRAM;
5: Applications of 3D RRAM beyond Storage.
The book aspires to provide a relevant reference for students, researchers, engineers, and professionals working with resistive random-access memory or those interested in 3D integration technology in general.
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Informazioni sull’autore
Qing Luo received his Ph.D. from the Institute of Microelectronics, Chinese Academy of Sciences (IMECAS), Beijing, China, in 2017. He is currently Professor at the Key Laboratory of Microelectronics Devices and Integrated Technology in IMECAS. His research interests are emerging memory devices including resistive RAM devices and ferroelectric memory devices.
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BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K.
Bergisch Gladbach, Germania
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