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Sinossi
Design for testability techniques offer one approach toward alleviating this situation by adding enough extra circuitry to a circuit or chip to reduce the complexity of testing.
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- EditoreMit Pr
- Data di pubblicazione1985
- ISBN 10 0262561999
- ISBN 13 9780262561990
- RilegaturaCopertina flessibile
- LinguaInglese
- Numero di pagine298
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Logic Testing and Design for Testability (Paperback or Softback)
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Logic Testing and Design for Testability (MIT Press Classics)
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Logic Testing and Design for Testability
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Logic Testing and Design for Testability (Computer Systems Series)
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Logic Testing and Design for Testability (MIT Press Classics)
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