Logic Testing and Design for Testability - Brossura

Fujiwara, Hideo

 
9780262561990: Logic Testing and Design for Testability

Sinossi

Design for testability techniques offer one approach toward alleviating this situation by adding enough extra circuitry to a circuit or chip to reduce the complexity of testing.

Le informazioni nella sezione "Riassunto" possono far riferimento a edizioni diverse di questo titolo.

Altre edizioni note dello stesso titolo

9780262060967: Logic Testing and Design for Testability

Edizione in evidenza

ISBN 10:  0262060965 ISBN 13:  9780262060967
Casa editrice: Mit Pr, 1985
Rilegato