Surface and Interface Characterization by Electron Optical Methods: Vol 191 - Rilegato

Howie, A.

 
9780306430862: Surface and Interface Characterization by Electron Optical Methods: Vol 191
Rilegato
ISBN 10: 030643086X ISBN 13: 9780306430862
Casa editrice: Plenum Pub Corp, 1989

Sinossi

Proceedings held April 1987. Some topics considered include: transmission imaging of surfaces, fundamentals of high resolution transmission electron microscopy, surface microanalysis and microscopy by x-ray photoeletron spectroscopy, core-loss spectroscopy, and Auger electron spectroscopy, spin-polarized secondary electrons from ferromagnets, intensity oscillations in reflection high energy electron diffraction during epitaxial growth. Annotation copyright Book News, Inc. Portland, Or.

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Editore
Plenum Pub Corp
Data di pubblicazione
1989
Lingua
Inglese
ISBN 10 
030643086X
ISBN 13 
9780306430862
Rilegatura
Copertina rigida
Numero di pagine
319
Redattore
Valdre U.
Contatto del produttore
non disponibile
Persona responsabile
CMN Printpool Inh. Mathis Neumann
https://www.also.com/ec/cms5/en_6000/6000/index.jsp

Friedrich-Karl-Str. 9
Hamburg
Germania

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