Provides background on how to use the multislice method to stimulate high-resolution images in both conventional and scanning transmission electron microscopy.
Le informazioni nella sezione "Riassunto" possono far riferimento a edizioni diverse di questo titolo.
Introduction. The Transmission Electron Microscope. Linear Image Approximations. Sampling and the Fast Fourier Transform. Simulating Images of Thin Specimens. Simulating Images of Thick Specimens. Multislice Applications and Examples. The Programs on the CD-ROM. Appendixes: Plotting CTEM/STEM Transfer Functions. Files on the CD-ROM. The Fourier Projection Theorem. Atomic Potentials and Scattering Factors. Bilinear Interpolation. 3D Perspective View. Index.
Book by Kirkland Earl J
Le informazioni nella sezione "Su questo libro" possono far riferimento a edizioni diverse di questo titolo.
(nessuna copia disponibile)
Cerca: Inserisci un desiderataNon riesci a trovare il libro che stai cercando? Continueremo a cercarlo per te. Se uno dei nostri librai lo aggiunge ad AbeBooks, ti invieremo una notifica!
Inserisci un desiderata