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Advanced Computing in Electron Microscopy - Rilegato

Kirkland, Earl J.

 
9780306459368: Advanced Computing in Electron Microscopy
Rilegato
ISBN 10: 0306459361 ISBN 13: 9780306459368
Casa editrice: Plenum Pub Corp, 1998

Sinossi

Provides background on how to use the multislice method to stimulate high-resolution images in both conventional and scanning transmission electron microscopy.

Le informazioni nella sezione "Riassunto" possono far riferimento a edizioni diverse di questo titolo.

Contenuti

Introduction. The Transmission Electron Microscope. Linear Image Approximations. Sampling and the Fast Fourier Transform. Simulating Images of Thin Specimens. Simulating Images of Thick Specimens. Multislice Applications and Examples. The Programs on the CD-ROM. Appendixes: Plotting CTEM/STEM Transfer Functions. Files on the CD-ROM. The Fourier Projection Theorem. Atomic Potentials and Scattering Factors. Bilinear Interpolation. 3D Perspective View. Index.

Product Description

Book by Kirkland Earl J

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Editore
Plenum Pub Corp
Data di pubblicazione
1998
Lingua
Inglese
ISBN 10 
0306459361
ISBN 13 
9780306459368
Rilegatura
Copertina rigida
Numero di pagine
250
Contatto del produttore
non disponibile
Persona responsabile
non disponibile