Statistical Regression With Measurement Error: No. 6 - Rilegato

Cheng, Chi-Lun; Van Ness, John W.

 
9780340614617: Statistical Regression With Measurement Error: No. 6
Rilegato
ISBN 10: 0340614617 ISBN 13: 9780340614617
Casa editrice: John Wiley & Sons Inc, 1999

Sinossi

Providing a general survey of the theory of measurement error models, including the functional, structural, and ultrastructural models, this book is written in the style of the Kendall and StuartAdvanced Theory of Statistics set and, like that series, includes exercises at the end of the chapters. The goal is to emphasize the ideas and practical implications of the theory in a style that does not concentrate on the theorem-proof format.

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Dalla quarta di copertina

Providing a general survey of the theory of measurement error models, including the functional, structural, and ultrastructural models, this book is written in the of the Kendall and Stuart Advanced Theory of Statistics set and, like that series, includes exercises at the end of the chapters. The goal is to emphasize the ideas and practical implications of the theory in a style that does not concentrate on the theorem-proof format.

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Editore
John Wiley & Sons Inc
Data di pubblicazione
1999
Lingua
Inglese
ISBN 10 
0340614617
ISBN 13 
9780340614617
Rilegatura
Copertina rigida
Numero di pagine
256
Contatto del produttore
non disponibile
Persona responsabile
non disponibile

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Edizione in evidenza

ISBN 10:  047071106X ISBN 13:  9780470711064
Casa editrice: John Wiley & Sons Inc, 1999
Rilegato