Electron and Ion Microscopy and Microanalysis: Principles and Applications, Second Edition, - Brossura

Libro 77 di 98: Optical Science and Engineering
 
9780367402945: Electron and Ion Microscopy and Microanalysis: Principles and Applications, Second Edition,

Sinossi

The publication date of the first edition is not stated, but the new edition is apparently considerably revised and expanded. It was written to serve as a multi-purpose text at the senior or graduate level and as a reference for the practicing scientist or engineer. Readers should have a math backgr

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Informazioni sull?autore

Lawrence E. Murr

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Altre edizioni note dello stesso titolo

9780824785567: Electron and Ion Microscopy and Microanalysis: Principles and Applications, Second Edition,

Edizione in evidenza

ISBN 10:  0824785568 ISBN 13:  9780824785567
Casa editrice: CRC Press, 1991
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