Computed Electron Micrographs and Defect Identification, Volume 7 - Brossura

Head, A. K.

 
9780444569974: Computed Electron Micrographs and Defect Identification, Volume 7
Brossura
ISBN 10: 0444569979 ISBN 13: 9780444569974
Casa editrice: North Holland, 2012
Editore
North Holland
Data di pubblicazione
2012
Lingua
Inglese
ISBN 10 
0444569979
ISBN 13 
9780444569974
Rilegatura
Copertina flessibile
Numero di pagine
412
Contatto del produttore
non disponibile
Persona responsabile
non disponibile

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