Defect Analysis in Electron Microscopy - Rilegato

 
9780470547601: Defect Analysis in Electron Microscopy

Altre edizioni note dello stesso titolo

9780412137709: Defect Analysis in Electron Microscopy

Edizione in evidenza

ISBN 10:  0412137704 ISBN 13:  9780412137709
Casa editrice: Chapman and Hall, 1976
Brossura