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Sinossi
Comprehensive coverage of memory test problems at chip, array and board level is provided in this book. For each of these test levels a class of fault models is introduced along with tests for these models. The author also presents algorithms of relevant fault models, together with proofs of their correctness. Special attention is given to why a fault model belongs to a particular class and why it is of interest. A software package, suitable for use on IBM PCs and compatibles,is also available which consists of a set of memory test programs and a simulation package demonstrating how the algorithms are executed and the relationship of the algorithm with the memory.
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Product Description
Book by Van De Goor A J
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Testing Semiconductor Memories: Theory and Practice
Editore:
John Wiley & Sons Inc, 1998
ISBN 10: 0471925861
ISBN 13: 9780471925866
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Testing Semiconductor Memories : Theory and Practice
Editore:
Wiley & Sons, Incorporated, John, 1991
ISBN 10: 0471925861
ISBN 13: 9780471925866
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Da: Better World Books: West, Reno, NV, U.S.A.
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Testing Semiconductor Memories: Theory and Practice
Da: GoldBooks, Denver, CO, U.S.A.
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Testing Semiconductor Memories: Theory and Practice
Da: BennettBooksLtd, Los Angeles, CA, U.S.A.
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Testing Semiconductor Memories: Theory and Practice
Editore:
Somerset, New Jersey, U.S.A.: John Wiley & Sons Inc, 1991
ISBN 10: 0471925861
ISBN 13: 9780471925866
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Prima edizione
Da: Bingo Books 2, Vancouver, WA, U.S.A.
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