This volume reflects the rapid evolution of surface analysis techniques involving ion and neural spectroscopies. Sputtering techniques are comprehensively discussed in chapters covering instrumentation, theory, quantification, dynamic and static SIMS and various applications.
Le informazioni nella sezione "Riassunto" possono far riferimento a edizioni diverse di questo titolo.
(nessuna copia disponibile)
Cerca: Inserisci un desiderataNon riesci a trovare il libro che stai cercando? Continueremo a cercarlo per te. Se uno dei nostri librai lo aggiunge ad AbeBooks, ti invieremo una notifica!
Inserisci un desiderata