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Foundations of Measurement: Geometrical, Threshold, and Probabilistic Representations - Brossura

Suppes, Patrick; Krantz, David H.; Luce, R. Duncan; Tversky, Amos

 
9780486453156: Foundations of Measurement: Geometrical, Threshold, and Probabilistic Representations
Brossura
ISBN 10: 0486453154 ISBN 13: 9780486453156
Casa editrice: Dover Pubns, 2006

Sinossi

All of the sciences―physical, biological, and social―have a need for quantitative measurement. This influential series, Foundations of Measurement, established the formal foundations for measurement, justifying the assignment of numbers to objects in terms of their structural correspondence.
Volume I introduces the distinct mathematical results that serve to formulate numerical representations of qualitative structures. Volume II extends the subject in the direction of geometrical, threshold, and probabilistic representations, and Volume III examines representation as expressed in axiomatization and invariance.

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Informazioni sull'autore

David H. Krantz is affiliated with Columbia University; R. Duncan Luce with the University of California, Irvine, and Patrick Suppes with Stanford University. Amos Tversky is deceased.

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Editore
Dover Pubns
Data di pubblicazione
2006
Lingua
Inglese
ISBN 10 
0486453154
ISBN 13 
9780486453156
Rilegatura
Copertina flessibile
Numero di pagine
493
Contatto del produttore
non disponibile
Persona responsabile
Soc. Agr. La Raia Ss
http://www.la-raia.it

Strada Monterotondo, 79
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15067
Italia