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Sinossi
All of the sciences―physical, biological, and social―have a need for quantitative measurement. This influential series, Foundations of Measurement, established the formal foundations for measurement, justifying the assignment of numbers to objects in terms of their structural correspondence.
Volume I introduces the distinct mathematical results that serve to formulate numerical representations of qualitative structures. Volume II extends the subject in the direction of geometrical, threshold, and probabilistic representations, and Volume III examines representation as expressed in axiomatization and invariance.
Volume I introduces the distinct mathematical results that serve to formulate numerical representations of qualitative structures. Volume II extends the subject in the direction of geometrical, threshold, and probabilistic representations, and Volume III examines representation as expressed in axiomatization and invariance.
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Informazioni sull'autore
David H. Krantz is affiliated with Columbia University; R. Duncan Luce with the University of California, Irvine, and Patrick Suppes with Stanford University. Amos Tversky is deceased.
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Foundations of Measurement Volume II: Geometrical, Threshold, and Probabilistic Representations (Dover Books on Mathematics)
Editore:
Dover Publications, 2006
ISBN 10: 0486453154
ISBN 13: 9780486453156
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Foundations of Measurement Volume II: Geometrical, Threshold, and Probabilistic Representations Volume 2
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Dover Publications, 2006
ISBN 10: 0486453154
ISBN 13: 9780486453156
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Foundations of Measurement Volume II: Geometrical, Threshold, and Probabilistic Representations (Volume 2) (Dover Books on Mathematics)
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Foundations of Measurement Volume II: Geometrical, Threshold, and Probabilistic Representations (Dover Books on Mathematics)
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Dover Publications, 2006
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Geometrical, Threshold, and Probabilistic Representations (Paperback or Softback)
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Dover Publications 12/15/2006, 2006
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