Electron Microscopy and Multiscale Modeling: An International Conference: v. 999 - Rilegato

 
9780735405196: Electron Microscopy and Multiscale Modeling: An International Conference: v. 999
Rilegato
ISBN 10: 0735405190 ISBN 13: 9780735405196
Casa editrice: American Institute of Physics, 2008

Sinossi

The EMMM-2007 Conference brought together leading experts in electron microscopy and materials modeling from around the world to explore how to synergistically combine atomic scale characterization and modeling to enhance the development of new materials.

Le informazioni nella sezione "Riassunto" possono far riferimento a edizioni diverse di questo titolo.

Editore
American Institute of Physics
Data di pubblicazione
2008
Lingua
Inglese
ISBN 10 
0735405190
ISBN 13 
9780735405196
Rilegatura
Copertina rigida
Numero di pagine
308
Redattore
Avilov Anatoly, Dudarev Sergei, Marks Laurence
Contatto del produttore
Springer-Verlag GmbH
customerservice@springernature.com

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Germania