Sinossi
The EMMM-2007 Conference brought together leading experts in electron microscopy and materials modeling from around the world to explore how to synergistically combine atomic scale characterization and modeling to enhance the development of new materials.
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Electron Microscopy and Multiscale Modeling. Proceedings of The EMMM-2007 International Conference, Moscow, Russia, 3-7 September 2007.
Editore:
Woodbury, NY, AIP Press., 2008
ISBN 10: 0735405190
ISBN 13: 9780735405196
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234 mm x 162 mm. VIII, 300 p. Hardcover. Versand aus Deutschland / We dispatch from Germany via Air Mail. Einband bestoßen, daher Mängelexemplar gestempelt, sonst sehr guter Zustand. Imperfect copy due to slightly bumped cover, apart from this in very good condition. Stamped. Stamped. AIP Conference Proceedings, Vol. 999. Sprache: Englisch. Codice articolo 2659BB
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Electron Microscopy and Multiscale Modeling: Proceedings of the EMMM-2007 International Conference
Da: Buchpark, Trebbin, Germania
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Condizione: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Seiten: 300 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | Keine Beschreibung verfügbar. Codice articolo 4358214/12
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